[发明专利]一种射频指标的测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及无线通信设备测试，特别涉及FDD(Frequency Division Duplexing，频分双工)LTE(Long Term Evolution，长期演进)基站的射频指标的测试系统。

背景技术

基站中的射频单元(RRU)是所有无线通信系统必不可少的部分，其性能优劣影响着整个系统，只有通过测试才能验证其性能是否达到了设计目标。

2011年11月3GPP(第三代合作伙伴计划)组织已经通过了FDD LTE上行灵敏度指标和某些阻塞干扰点(下行信号与干扰信号的二次/三次谐波落在上行带内)需要在下行发射E-TM1.1模式下进行测试。

实验室灵敏度测试环境如图1，矢量信号发生器产生的上行信号经过衰减器到达天线口，进行灵敏度测试。灵敏度测试的详细过程已在3GPP 36.141协议中规定，这里就不再详细说明。

阻塞测试环境如图2，矢量信号发生器B端口产生的上行有用信号经过衰减器和环形器到达天线口；矢量信号发生器A端口产生的上行干扰信号经过衰减器和环形器到达天线口，进行阻塞测试。阻塞测试的详细过程已在3GPP 36.141协议中规定，这里就不再详细说明。

图1和图2是基站下行不输出功率情况下，灵敏度和阻塞测试环境；如果基站下行满功率发射情况下，灵敏度和阻塞指标还是采用图1和图2的话，就存在以下问题：

由于RRU的输出功率一般都大于20W，测试环境需要用到衰减器和环形器。目前就业界器件水平而言衰减器的无源互调约-110dBc，环形器的无源互调指标更差，如果TX(发射链路)满功率发射，测试环境会产生大量的无源互调以及杂散，从而影响上行指标。但这种指标的恶化，并非RRU性能不佳引起，而是由于测试环境的不合理所导致，测试环境已经不能真实的反映RRU的性能。

针对3GPP TS36.141协议中的block(阻塞)指标，要求干扰信号的功率大于+16dBm，同时还要求TX满功率发射。如何搭建测试环境极为关键，既要保证TX下行信号对信号源不造成损坏，还要保证信号源送给RRU的干扰信号在天线口大于+16dBm，更要保证测试环境不能产生大的互调产物影响RRU射频测试指标。

目前绝大多数的FDD LTE设备供应商，上行射频指标和下行射频指标都是分时测试，效率较低。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种射频指标的测试系统，以实现上下行指标同时测试，大幅提高测试效率。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种射频指标的测试系统，包括：多工器、射频单元(RRU)、测试仪和信号源，其中，所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接，

所述多工器中的一个或多个带通滤波器接口通过第一衰减器连接到测试仪，用于测试下行信号射频指标；

所述信号源的第一输出口直接与多工器中的第一带阻滤波器接口连接，用于输出上行干扰信号，所述信号源的第二输出口通过第二衰减器与多工器中的第二带阻滤波器接口连接，用于输出上行有用信号，进而测试上行信号射频指标。

进一步地，上述系统还具有下面特点：

所述下行信号射频指标包括：下行信号的功率、矢量误差、占用带宽和频率误差中的一个或多个；

所述上行信号射频指标包括：上行信号的灵敏度、动态范围、临道选择性、信道内选择性和互调指标中的一个或多个。

为了解决上述问题，本发明还提供一种射频指标的测试系统，包括：多工器、RRU和信号源，其中，所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接，

所述信号源的第一输出口直接与所述多工器中的第一带阻滤波器接口连接，用于输出大于预定功率且不落在下行信号频段内的上行干扰信号；

所述信号源的第二输出口通过衰减器与所述多工器中的第二带阻滤波器接口连接，用于输出上行有用信号，

所述系统，用于进行在下行信号达到额定功率的情况下的阻塞指标测试。

为了解决上述问题，本发明还提供一种射频指标的测试系统，包括：多工器、RRU和信号源，其中，所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接，

所述信号源的第一输出口与所述多工器中的一带通滤波器接口连接，用于输出大于预定功率且落在下行信号频段内的上行干扰信号；

所述信号源的第二输出口通过衰减器与所述多工器中的一带阻滤波器接口连接，用于输出上行有用信号，

所述系统，用于进行在下行信号达到额定功率的情况下的阻塞指标测试。