[发明专利]具有时域数据共同呈现的测试和测量仪器

权利要求书

1.一种测试和测量仪器，包括：

一个或多个输入端子，用于接收受测电信号；

一个或多个模数转换器（ADC），用于数字化受测电信号；

数字下变频器，用于从数字化信号产生IQ基带分量信息；

存储器，被配置为存储IQ基带分量信息；

用户接口；以及

控制器，被配置为：

使用所述IQ基带分量信息生成第一基于IQ的时域波形；以及

通过所述用户接口在共同轴上呈现所述第一基于IQ的时域波形和与所述第一基于IQ的时域波形不同的形式的第二时域波形。

2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中：

使用与所述受测电信号相关联的所述IQ基带分量信息来生成所述第二时域波形。

3.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述一个或多个输入端子直接接收所述受测电信号并且在时域中对所述受测电信号进行采样，其中：

所述第二时域波形基于直接接收并且在时域中被采样的信号；以及

所述控制器被配置为在所述共同轴上呈现所述第二时域波形与所述第一基于IQ的时域波形。

4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述控制器被配置为将所述第一基于IQ的时域波形生成为频率对时间波形、相位对时间波形、功率对时间波形以及符号对时间波形中的至少一个。

5.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中：

所述用户接口包括水平标度控制；以及

所述控制器还被配置为响应于所述水平标度控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的水平标度呈现并且调整所述第二时域波形的水平标度呈现。

6.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中：

所述用户接口包括水平位置控制；以及

所述控制器还被配置为响应于所述水平位置控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的水平位置呈现并且调整所述第二时域波形的水平位置呈现。

7.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中：

所述用户接口包括缩放控制；以及

所述控制器还被配置为响应于所述缩放控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的缩放呈现并且调整所述第二时域波形的缩放呈现。

8.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中：

所述用户接口包括平移控制；以及

所述控制器还被配置为响应于所述平移控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的平移呈现并且调整所述第二时域波形的平移呈现。

9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中：

所述用户接口包括竖直标度控制；以及

所述控制器还被配置为响应于所述竖直标度控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的竖直标度呈现并且调整所述第二时域波形的竖直标度呈现。

10.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中：

所述用户接口包括竖直位置控制；以及

所述控制器还被配置为响应于所述竖直位置控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的竖直位置呈现并且调整所述第二时域波形的竖直位置呈现。

11.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中：

所述用户接口包括竖直标度控制；以及

所述控制器还被配置为基本上独立于任何其他时域波形的竖直标度呈现来响应于所述竖直标度控制在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形和所述第二时域波形中任何单独一个的竖直标度呈现。

12.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中：

所述用户接口包括竖直位置控制；以及

所述控制器还被配置为基本上独立于任何其他时域波形的竖直位置呈现来响应于所述竖直位置控制在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形和所述第二时域波形中任何单独一个的竖直位置呈现。

13.根据权利要求12所述的测试和测量仪器，其中所述第一基于IQ的时域波形至少部分地与所述第二时域波形重叠用于视觉比较。