[发明专利]具有时域数据共同呈现的测试和测量仪器

说明书

技术领域

本公开涉及测试和测量仪器，并且更特别地涉及如下测试和测量仪器，其中可以在共同轴上与其他时域数据一起呈现从经下变频的IQ基带分量信息导出的时域数据。

背景技术

RF载波信号可以基于载波的幅度、频率或相位变化以各种方式传输信息。例如，很多现代传输系统使用跳频或相位调制以符合通信标准并且在不同的设备中提供改进的功能和互操作性。

电子设备可以利用多个频率范围中的信号操作。即，电子设备可以具有基带信号（诸如数字信号）、以及光、微波或射频（RF）信号（诸如调制的RF和/或光载波）。例如，基带数字数据可以用于调制RF载波。每个基带数字数据和调制的RF载波可以具有关联的时域数据。

由于基带数字数据和调制的RF载波可以占用不同的频率范围，所以对表示在调制中编码的数据的时域信号的分析可能是困难的。特别地，频域测试和测量仪器通常具有单通道并且否则在呈现和操纵下变频时域数据的领域中有缺陷。

因此，难以呈现、操纵和/或比较不同类型的时域信号。

发明内容

本发明的实施例提供用于生成基于IQ的时域波形信息并且通过用户接口在共同轴上呈现基于IQ的时域波形信息连同一个或多个其他时域波形的测试和测量仪器与方法。

测试和测量仪器可以包括例如用于接收受测电信号的一个或多个输入端子、用于数字化受测信号的模数转换器（ADC）、用于从数字化信号产生I(同相)和Q（正交）基带分量信息的数字下变频器、被配置为存储IQ基带分量信息的存储器、用户接口和控制器。控制器可以被配置为使用IQ基带分量信息生成基于IQ的时域波形，并且通过用户接口在共同轴上呈现基于IQ的时域波形和第二时域波形。

用户接口可以包括诸如水平位置的水平控制和/或标度控制。控制器可以响应于水平标度控制的单个调整在共同轴上调整基于IQ的时域波形的水平标度呈现并且调整附加时域波形的水平标度呈现。类似地，控制器可以响应于水平位置控制的单个调整在共同轴上调整基于IQ的时域波形的水平位置呈现并且调整附加时域波形的水平位置呈现。诸如水平缩放或平移（pan）的其他控制也可以用于调整波形。

用户接口还可以包括诸如针对每个通道的竖直位置和/或标度控制的多通道竖直控制。竖直控制可以基本上独立于任何其他时域波形控制例如基于IQ的时域波形或其他时域波形中任何独立一个的竖直位置和/或竖直标度。可以针对与相应通道相关联的独立波形来进行此类调整。

可以将基于IQ的时域波形调整为至少部分地与其他时域波形重叠或反之亦然，以便进行视觉比较。替代地，可以将基于IQ的时域波形调整为与其他时域波形间隔开以便进行视觉比较。

附图说明

图1示出了根据本发明一个示例实施例的测试和测量仪器的框图。

图2示出了图1的测试和测量仪器中数字下变频器的示例的框图。

图3示出了与其他时域数据一起在共同轴上呈现基于IQ的时域波形信息的测试和测量仪器的用户接口的示例。

图4示出了与其他时域数据一起在共同轴上呈现下变频时域波形信息的测试和测量仪器的用户接口的另一示例。

图5是根据本发明实施例的呈现基于IQ的时域数据连同其他时域数据的测试和测量仪器的用户接口的显示器的示例。

具体实施方式

图1示出了根据本发明一个示例实施例的测试和测量仪器100的框图。测试和测量仪器100可以是数字示波器、实时信号/谱分析器（RTSA）或其他合适的测量设备。出于简要和一致而不是限制的原因，测试和测量仪器通常在此将被称作示波器。示波器100根据本发明的一个示例实施例可以包括模数转换器（ADC）108、数字下变频器115、包括波形生成器145的控制器140以及用户接口150。

示波器100可以具有多通道或输入，诸如输入端子110，适于与在此描述的各种实施例一起使用。尽管示波器可以具有单个输入端子110，但是描述的本发明方面同样适用于具有两个输入、四个输入或任何数量的输入的示波器。虽然示出示波器100的部件直接彼此耦合，但是应该理解，示波器100可以包括各种不必示出但是布置在示波器100的所示部件之间或与之相关联的其他电路或软件部件、输入、输出和/或接口。

在输入端子110处接收受测电信号（诸如RF信号）。可以将该RF信号转换为在由ADC 108数字化之前被滤波的模拟中频（IF）信号。然而，通常在此将参考“RF信号”或“多个RF信号”，并且应该理解，此类参考可以包括一个或多个RF信号或从RF信号导出的一个或多个IF信号。