[发明专利]用于对准或重叠的标记结构，限定它的掩模图案及使用该掩模图案的光刻投影装置

说明书

本申请是申请日为2004年7月12日、申请号为200410063495.9、发明名称为“用于对准或重叠的标记结构，限定它的掩模图案及使用该掩模图案的光刻投影装置”的专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种如权利要求1前序部分限定的用于对准或重叠的掩模图案。此外，本发明涉及一种由这种掩模图案形成的标记结构。此外，本发明涉及一种使用标记结构的光刻投影装置。

背景技术

本发明发现一种在光刻投影装置领域的应用，该光刻投影装置包括用于提供辐射投射光束的辐射系统，用于支撑构图部件的支撑结构，所述构图部件用于根据所需的图案对投射光束进行构图，用于保持基底的基底台；以及用于将带图案的光束投影到基底的目标部分上的投射系统。

术语“构图部件”应广义地解释为能够给入射的辐射光束赋予带图案的截面的装置，其中所述图案与要在基底的目标部分上形成的图案一致；本文中也使用术语“光阀”。一般地，所述图案与在目标部分中形成的器件如集成电路或者其它器件的特定功能层相对应(如下文)。这种构图部件的示例包括：

-掩模。掩模的概念在光刻中是公知的。它包括如二进制型、交替相移型、和衰减相移型的掩模类型，以及各种混合掩模类型。这种掩模在辐射光束中的布置使入射到掩模上的辐射能够根据掩模上的图案而选择性地被透射(在透射掩模的情况下)或者被反射(在反射掩模的情况下)。在使用掩模的情况下，支撑结构一般是一个掩模台，它能够保证掩模被保持在入射辐射光束中的所需位置，并且如果需要该台会相对光束移动。

-可编程反射镜阵列。这种设备的一个例子是具有一粘弹性控制层和一反射表面的矩阵可寻址表面。这种装置的基本原理是(例如)反射表面的已寻址区域将入射光反射为衍射光，而未寻址区域将入射光反射为非衍射光。用一个适当的滤光器，从反射的光束中滤除所述非衍射光，只保留衍射光；按照这种方式，光束根据矩阵可寻址表面的定址图案而产生图案。可编程反射镜阵列的另一实施例利用微小反射镜的矩阵排列，通过使用适当的局部电场，或者通过使用压电致动器装置，使得每个反射镜能够独立地关于一轴倾斜。再者，反射镜是矩阵可寻址的，由此已寻址反射镜以与未寻址反射镜不同的方向将入射的辐射光束反射；按照这种方式，根据矩阵可寻址反射镜的定址图案对反射光束进行构图。可以用适当的电子装置进行该所需的矩阵定址。在上面描述的两种情况中，构图部件可以包括一个或多个可编程反射镜阵列。这里提及的有关反射镜阵列的更多信息可以从例如美国专利US5,296,891和US5,523,193，以及PCT专利申请WO98/38597和WO98/33096中获得，这些文献在这里引入作为参照。在使用可编程反射镜阵列的情况下，所述支撑结构可以体现为例如框架或者工作台，所述支撑结构根据需要可以是固定的或者是可移动的；以及

-可编程LCD阵列。在美国专利US 5,229,872中给出了一个这种结构的实例，它在这里引入作为参照。如上所述，在这种情况下支撑结构可以体现为例如框架或者工作台，所述结构根据需要可以是固定的或者是可移动的。

为简单起见，本文的其余部分在一定的情况下具体以掩模和掩模台为例；可是，在这样的例子中所讨论的一般原理应适用于上述更宽范围的构图部件。

光刻投影装置可以用于例如集成电路(IC)的制造。在这种情况下，构图部件可产生对应于IC一个单独层的电路图案，该图案可以成像在已涂敷辐射敏感材料(抗蚀剂)层的基底(硅晶片)的目标部分上(例如包括一个或者多个管芯(die))。一般地，单一的晶片将包含相邻目标部分的整个网格，该相邻目标部分由投影系统逐个相继辐射。在目前采用掩模台上的掩模进行构图的装置中，有两种不同类型的机器。一类光刻投影装置是，通过将全部掩模图案一次曝光在目标部分上而辐射每一目标部分；这种装置通常称作晶片步进器或步进-重复装置。另一种装置(通常称作步进-扫描装置)通过在投射光束下沿给定的参考方向(“扫描”方向)依次扫描掩模图案、并同时沿与该方向平行或者反平行的方向同步扫描基底台来辐射每一目标部分；因为一般来说，投影系统有一个放大系数M(通常＜1)，因此对基底台的扫描速度V是对掩模台扫描速度的M倍。关于如这里描述的光刻设备的更多信息可以从例如美国专利US6,046,792中获得，该文献这里作为参考引入。