[发明专利]扩散阻挡层、金属互连结构及其制造方法无效
申请号: | 201210044177.2 | 申请日: | 2012-02-24 |
公开(公告)号: | CN103296006A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 马小龙;殷华湘;赵利川 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L23/532 | 分类号: | H01L23/532;H01L21/768 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 扩散 阻挡 金属 互连 结构 及其 制造 方法 | ||
1.一种金属互连结构,包括:
用于电连接的导电栓/互连导线;以及
设置在导电栓/互连导线的至少一部分表面上的扩散阻挡层,
其中,所述扩散阻挡层包括绝缘非晶碳。
2.根据权利要求1所述的金属互连结构,还包括:电介质层,所述导电栓/互连导线嵌于所述电介质层中。
3.根据权利要求2所述的金属互连结构,其中,
扩散阻挡层位于电介质层的底面上,且导电栓/互连导线通过扩散阻挡层中的开口与下层导电部件电连接;和/或
扩散阻挡层位于导电栓/互连导线的侧面上;和/或
扩散阻挡层位于电介质层的顶面上,且导电栓/互连导线通过扩散阻挡层中的开口与上层导电部件电连接。
4.根据权利要求1所述的金属互连结构,还包括:围绕导电栓/互连导线的底面和侧面的导电阻挡层。
5.根据权利要求2所述的金属互连结构,其中,电介质层包括绝缘非晶碳。
6.根据权利要求5所述的金属互连结构,其中,电介质层与扩散阻挡层一体形成。
7.根据权利要求2所述的金属互连结构,其中,电介质层包括低K电介质。
8.根据权利要求7所述的金属互连结构,其中,所述低K电介质的介电常数K<3.5,优选地K<3.5,更优选地K<2.0。
9.根据权利要求2所述的金属互连结构,其中,扩散阻挡层的厚度为2-200nm,优选地为5-50nm。
10.一种制造金属互连结构的方法,所述金属互连结构包括用于电连接的导电栓/互连导线,该方法包括:
在导电栓/互连导线的至少一部分表面上形成扩散阻挡层,
其中,所述扩散阻挡层包括绝缘非晶碳。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,导电栓/互连导线嵌于电介质层中,
形成扩散阻挡层包括:
在电介质层的底面上设置预备扩散阻挡层;
对电介质层和预备扩散阻挡层进行构图以在其中形成沟槽;以及
在沟槽中填充导电材料,以形成所述导电栓/互连导线,
其中,预备扩散阻挡层被构图为具有开口,使得导电栓/互连导线通过开口与下层导电部件电连接,构图的预备扩散阻挡层形成所述扩散阻挡层。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,在填充导电材料之前,该方法还包括:
在沟槽的侧面上形成侧面扩散阻挡层,所述侧面扩散阻挡层包括绝缘非晶碳。
13.根据权利要求10所述的方法,其中,导电栓/互连导线嵌于电介质层中,
形成扩散阻挡层包括:
对电介质层进行构图以在其中形成沟槽;
在沟槽的侧壁上形成所述扩散阻挡层;以及
在沟槽中填充导电材料,以形成导电栓/互连导线。
14.根据权利要求11或13所述的方法,其中,在填充导电材料之前,该方法还包括:
在沟槽的底面和侧面上形成导电阻挡层。
15.根据权利要求10所述的方法,其中,导电栓/互连导线嵌于电介质层中,
形成扩散阻挡层包括:
在电介质层的顶面上设置预备扩散阻挡层;
对预备扩散阻挡层进行构图以形成所述扩散阻挡层,
其中,预备扩散阻挡层被构图为具有开口,使得导电栓/互连导线通过开口与上层导电部件电连接。
16.一种扩散阻挡层,设于金属结构与电介质材料之间,用于防止金属结构与电介质材料之间的互扩散,
其中,所述扩散阻挡层包括绝缘非晶碳。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210044177.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。