[发明专利]扩散阻挡层、金属互连结构及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201210044177.2 申请日: 2012-02-24
公开(公告)号: CN103296006A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 马小龙;殷华湘;赵利川 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L23/532 分类号: H01L23/532;H01L21/768
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 倪斌
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 扩散 阻挡 金属 互连 结构 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种金属互连结构,包括:

用于电连接的导电栓/互连导线;以及

设置在导电栓/互连导线的至少一部分表面上的扩散阻挡层,

其中,所述扩散阻挡层包括绝缘非晶碳。

2.根据权利要求1所述的金属互连结构,还包括:电介质层,所述导电栓/互连导线嵌于所述电介质层中。

3.根据权利要求2所述的金属互连结构,其中,

扩散阻挡层位于电介质层的底面上,且导电栓/互连导线通过扩散阻挡层中的开口与下层导电部件电连接;和/或

扩散阻挡层位于导电栓/互连导线的侧面上;和/或

扩散阻挡层位于电介质层的顶面上,且导电栓/互连导线通过扩散阻挡层中的开口与上层导电部件电连接。

4.根据权利要求1所述的金属互连结构,还包括:围绕导电栓/互连导线的底面和侧面的导电阻挡层。

5.根据权利要求2所述的金属互连结构,其中,电介质层包括绝缘非晶碳。

6.根据权利要求5所述的金属互连结构,其中,电介质层与扩散阻挡层一体形成。

7.根据权利要求2所述的金属互连结构,其中,电介质层包括低K电介质。

8.根据权利要求7所述的金属互连结构,其中,所述低K电介质的介电常数K<3.5,优选地K<3.5,更优选地K<2.0。

9.根据权利要求2所述的金属互连结构,其中,扩散阻挡层的厚度为2-200nm,优选地为5-50nm。

10.一种制造金属互连结构的方法,所述金属互连结构包括用于电连接的导电栓/互连导线,该方法包括:

在导电栓/互连导线的至少一部分表面上形成扩散阻挡层,

其中,所述扩散阻挡层包括绝缘非晶碳。

11.根据权利要求10所述的方法,其中,导电栓/互连导线嵌于电介质层中,

形成扩散阻挡层包括:

在电介质层的底面上设置预备扩散阻挡层;

对电介质层和预备扩散阻挡层进行构图以在其中形成沟槽;以及

在沟槽中填充导电材料,以形成所述导电栓/互连导线,

其中,预备扩散阻挡层被构图为具有开口,使得导电栓/互连导线通过开口与下层导电部件电连接,构图的预备扩散阻挡层形成所述扩散阻挡层。

12.根据权利要求11所述的方法,其中,在填充导电材料之前,该方法还包括:

在沟槽的侧面上形成侧面扩散阻挡层,所述侧面扩散阻挡层包括绝缘非晶碳。

13.根据权利要求10所述的方法,其中,导电栓/互连导线嵌于电介质层中,

形成扩散阻挡层包括:

对电介质层进行构图以在其中形成沟槽;

在沟槽的侧壁上形成所述扩散阻挡层;以及

在沟槽中填充导电材料,以形成导电栓/互连导线。

14.根据权利要求11或13所述的方法,其中,在填充导电材料之前,该方法还包括:

在沟槽的底面和侧面上形成导电阻挡层。

15.根据权利要求10所述的方法,其中,导电栓/互连导线嵌于电介质层中,

形成扩散阻挡层包括:

在电介质层的顶面上设置预备扩散阻挡层;

对预备扩散阻挡层进行构图以形成所述扩散阻挡层,

其中,预备扩散阻挡层被构图为具有开口,使得导电栓/互连导线通过开口与上层导电部件电连接。

16.一种扩散阻挡层,设于金属结构与电介质材料之间,用于防止金属结构与电介质材料之间的互扩散,

其中,所述扩散阻挡层包括绝缘非晶碳。

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