[发明专利]眼科设备及其控制方法有效
申请号: | 201210046698.1 | 申请日: | 2012-02-27 |
公开(公告)号: | CN102670173A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 和田学 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | A61B3/18 | 分类号: | A61B3/18;A61B3/15;A61B3/16 |
代理公司: | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人: | 魏启学 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 眼科 设备 及其 控制 方法 | ||
1.一种眼科设备,包括:
摄像部件,用于基于来自利用测量光照明的被检眼的返回光,拍摄所述被检眼的角膜断层图像;
测量部件,用于根据所述摄像部件所拍摄的所述被检眼的角膜断层图像来测量角膜厚度;以及
校正部件,用于基于所述角膜断层图像在所述摄像部件的摄像面上的位置来校正角膜厚度。
2.根据权利要求1所述的眼科设备,其特征在于,还包括校正值表,其中,在所述校正值表中,相互对应地保持角膜断层图像在所述摄像面上的位置和用于校正角膜厚度的校正值;
其中,所述校正部件基于通过参考所述校正值表所获得的校正值,校正角膜厚度。
3.根据权利要求1或2所述的眼科设备,其特征在于,所述摄像部件包括:
对准光学系统,用于将对准指标投影至所述被检眼的角膜,并且被用来进行所述被检眼和所述眼科设备的主体之间的定位;
投影光学系统,用于向所述被检眼的角膜投影用于测量角膜厚度的角膜厚度测量光,并且共用所述对准光学系统的一部分;以及
光接收光学系统,用于通过形成作为返回光的散射光的图像,拍摄与所述角膜的角膜厚度相对应的图像,其中,所述返回光是由所述投影光学系统投影至所述角膜的所述角膜厚度测量光的、从所述角膜返回的返回光。
4.根据权利要求1或2所述的眼科设备,其特征在于,所述校正部件中的所述角膜断层图像的位置是如下的位置:在该位置处,在所述摄像部件所拍摄的图像中,来自所述角膜的顶点的返回光在所述摄像部件的摄像面上成像。
5.根据权利要求1或2所述的眼科设备,其特征在于,所述校正部件所校正后的角膜厚度不大于所述测量部件所测量出的角膜厚度。
6.根据权利要求3所述的眼科设备,其特征在于,还包括定位部件,所述定位部件用于基于对由所述对准光学系统投影的对准指标的检测,移动所述眼科设备的主体,并且进行所述被检眼和所述眼科设备的主体之间的定位。
7.根据权利要求3所述的眼科设备,其特征在于,还包括:
眼压测量光学系统,其共用所述对准光学系统的一部分,向所述被检眼投影用于测量所述被检眼的眼压的眼压测量光,并且检测来自所述角膜的所述眼压测量光的反射光;
吹气部件,用于通过对着所述被检眼的角膜吹气流来使所述角膜变形;以及
眼压值测量部件,用于通过使用所述校正部件所校正后的角膜厚度,校正基于与由所述吹气部件导致的所述角膜的变形相对应的、来自所述眼压测量光学系统的反射光的变化所获得的眼压值,来测量眼压值。
8.一种眼科设备的控制方法,所述控制方法包括以下步骤:
摄像步骤,用于利用摄像部件基于来自利用测量光照明的被检眼的返回光,拍摄所述被检眼的角膜断层图像;
测量步骤,用于根据所述摄像部件所拍摄的所述被检眼的角膜断层图像来测量角膜厚度;以及
校正步骤,用于基于所述角膜断层图像在所述摄像部件的摄像面上的位置来校正角膜厚度。
9.一种眼科设备,包括:
对准指标投影系统,用于将对准指标投影至被检眼的角膜;
多个开口光圈,其以相互间隔预定距离的方式被配置在相对于对着所述被检眼的光轴的对称位置处,以使得使用所述对准指标的角膜反射图像的光束穿过;
偏转部件,其被配置在所述多个开口光圈之前或之后,用于在不同方向上偏转光束;
摄像透镜,用于使偏转后的光束在摄像部件的摄像面上成像;以及
光学构件,其被配置在穿过所述多个开口光圈的光束的光路上,并且改变与所述多个开口光圈之间的所述预定距离相对应的光束之间的距离。
10.根据权利要求9所述的眼科设备,其特征在于,所述光学构件和所述偏转部件被一体化,并且所述偏转部件配置在所述光学构件的出射侧。
11.根据权利要求9所述的眼科设备,其特征在于,针对所述多个开口光圈分别配置的所述光学构件具有一体化结构。
12.根据权利要求9所述的眼科设备,其特征在于,所述眼科设备包括非接触眼压计,所述多个开口光圈之间的距离是用于防止主光线被用于对着所述被检眼的角膜吹气的喷嘴遮挡的距离,并且所述光学构件缩短穿过所述多个开口光圈的光束之间的距离。
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