[发明专利]眼科设备及其控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种具有用于测量被检眼的角膜厚度的功能的眼科设备及其控制方法。

背景技术

通常，设计用于测量被检眼的角膜厚度和眼压的眼科设备在针对被检眼的上下方向、左右方向和操作距离方向(前后方向，即靠近眼或离开眼的方向)上进行被检眼和设备之间的对准。

日本3597274号专利所公开的角膜厚度测量设备通过使用第一投影/光接收系统和第二投影/光接收系统进行对准，其中，第一投影/光接收系统在上下方向和左右方向上进行对准，第二投影/光接收系统在操作距离方向上进行对准，并且还用于角膜厚度测量。该设备通过使用从对着被检眼的光轴外部投影至角膜的对准指标的反射光来进行操作距离方向上的对准。在通过使用这类系统进行操作距离方向上的对准时，对于对准和角膜厚度测量需要两个投影/光接收系统。这使得不可能简化该设备的光学系统，并且因此导致该设备的大小和成本增大。

在这种情况下，根据日本特开2006-334441号公报所述的非接触眼压计的对准方案，设备包括一个投影系统(对准和角膜厚度测量共用)和两个光接收系统(其中一个是用于测量角膜厚度的光接收系统，其配置在对着被检眼的光轴外部的位置处)。该设备在上下方向、左右方向和操作距离方向上进行对准。在这种情况下，角膜亮点图像是在利用对准指标照明被检眼的角膜、并且通过棱镜从对着被检眼的光轴接收到反射光时时所形成的图像。

在这种情况下，在通过使用角膜亮点图像进行对准时，操作距离(被检眼和设备之间在前后方向上的距离)不仅根据对准误差而改变，而且还根据角膜表面之间的曲率的差而改变。为此，在测量角膜厚度时，接收来自角膜的散射光的光接收系统的光轴的角度和到光接收元件的光路长度变化。结果，在光接收元件上成像的来自角膜的散射光发生模糊，从而导致不能进行正确的角膜厚度测量。

发明内容

考虑到上述问题做出本发明，并且本发明使得具有用于测量被检眼的角膜厚度的功能的眼科设备利用具有简单结构的光学系统精确地测量角膜厚度。

根据本发明的一个方面，提供一种眼科设备，包括：摄像部件，用于基于来自利用测量光照明的被检眼的返回光，拍摄所述被检眼的角膜断层图像；测量部件，用于根据所述摄像部件所拍摄的所述被检眼的角膜断层图像来测量角膜厚度；以及校正部件，用于基于所述角膜断层图像在所述摄像部件的摄像面上的位置来校正角膜厚度。

另外，根据本发明的另一方面，提供一种眼科设备的控制方法，所述控制方法包括以下步骤：摄像步骤，用于利用摄像部件基于来自利用测量光照明的被检眼的返回光，拍摄所述被检眼的角膜断层图像；测量步骤，用于根据所述摄像部件所拍摄的所述被检眼的角膜断层图像来测量角膜厚度；以及校正步骤，用于基于所述角膜断层图像在所述摄像部件的摄像面上的位置来校正角膜厚度。

此外，根据本发明的另一方面，提供一种眼科设备，包括：对准指标投影系统，用于将对准指标投影至被检眼的角膜；多个开口光圈，其以相互间隔预定距离的方式被配置在相对于对着所述被检眼的光轴的对称位置处，以使得使用所述对准指标的角膜反射图像的光束穿过；偏转部件，其被配置在所述多个开口光圈之前或之后，用于在不同方向上偏转光束；摄像透镜，用于使偏转后的光束在摄像部件的摄像面上成像；以及光学构件，其被配置在穿过所述多个开口光圈的光束的光路上，并且改变与所述多个开口光圈之间的所述预定距离相对应的光束之间的距离。

通过以下参考附图对典型实施例的说明，本发明的其它特征将显而易见。

附图说明

图1是示出根据实施例的眼科设备的测量单元的结构的例子的框图；

图2A是示出棱镜光圈11的图；

图2B是示出裂隙板24的图；

图2C是示出开口光圈之间的距离D的图；

图3是示出在角膜亮点对准时角膜Ec的角膜顶点和喷嘴的远端部之间的距离D的图；

图4是示出来自具有平均角膜曲率半径的角膜Ec的散射光在摄像元件28上的成像的图；

图5是示出来自具有大于平均值的角膜曲率半径的角膜Ec的散射光在摄像元件28上的成像的图；

图6是示出来自具有小于平均值的角膜曲率半径的角膜Ec的散射光在摄像元件28上的成像的图；

图7A和7B是示出角膜厚度测量光学系统中的摄像元件上的图像的宽度和摄像元件上的图像的位置之间的关系的图；

图8A～8D是用于说明在角膜亮点对准时的操作距离和所拍摄的两个角膜亮点图像之间的关系的图；

图9是示出根据实施例的眼科设备的操作的流程图；