[发明专利]一种硅基薄膜太阳能电池无效

专利信息
申请号: 201210047083.0 申请日: 2012-02-28
公开(公告)号: CN102593205A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 余冬冬;董科研;崔艳峰;陆中丹 申请(专利权)人: 常州天合光能有限公司
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/0216;H01L31/077;H01L31/20
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 王凌霄
地址: 213031 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 薄膜 太阳能电池
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种硅基薄膜太阳能电池。

背景技术

现有的硅基薄膜电池一般采用a-Si薄膜作为窗口层,但是不能很好的解决a-Si薄膜的光致衰减效应。硅基薄膜电池对基底的界面态要求很高,对清洗工艺要求苛刻。另外,硅基薄膜电池的重掺杂工艺会造成大量缺陷复合中心,导致电池开压及填充因子的降低,对电池性能造成一定影响。

发明内容

本发明要解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提供一种异质结叠层太阳能电池及其制备方法,

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种硅基薄膜太阳能电池,具有硅片,所述的硅片具有P型晶体硅基体,所述的P型晶体硅基体正面生长有2~5nm的SiO2(二氧化硅)层,所述的P型晶体硅基体背面生长有2~5nm的Al2O3(三氧化二铝)层,所述的SiO2层与P型晶体硅基体通过激光打孔形成点接触,所述的Al2O3层与P型晶体硅基体通过激光打孔形成点接触,所述的SiO2层正面依次生长有厚度为5±2nm的第一nc-Si:H(i)层、厚度为10±3nm的a-Si:H(n+)层、厚度为5±2nm的第二nc-Si:H(i)层,所述的Al2O3层背面依次生长有厚度为5±2nm的第三nc-Si:H(i)层、厚度为10±3nm的a-Si:H(p+)、厚度为5±2nm的第四nc-Si:H(i)层。

进一步地,所述的第二nc-Si:H(i)层正面沉积有厚度为80~100nm的正面导电膜层,正面导电膜层正面印刷有正面电极,所述的第四nc-Si:H(i)层背面沉积有厚度为80~100nm的背面导电膜层,背面导电膜层背面印刷有背面电极。

一种硅基薄膜太阳能电池的制备方法,硅片的衬底采用P型晶体硅基体,所述的P型晶体硅基体正面生长2~5nm的SiO2层,所述的P型晶体硅基体背面生长2~5nm的Al2O3层,所述的SiO2层与P型晶体硅基体通过激光打孔形成点接触,所述的Al2O3层与P型晶体硅基体通过激光打孔形成点接触。

所述的SiO2层正面依次生长厚度为5±2nm的第一nc-Si:H(i)层、厚度为10±3nm的a-Si:H(n+)层、厚度为5±2nm的第二nc-Si:H(i)层,所述的第二nc-Si:H(i)层正面沉积厚度为80~100nm的正面导电膜层,正面导电膜层正面印刷正面电极。

所述的Al2O3层背面依次生长厚度为5±2nm的第三nc-Si:H(i)层、厚度为10±3nm的a-Si:H(p+)、厚度为5±2nm的第四nc-Si:H(i)层,所述的第四nc-Si:H(i)层背面沉积厚度为80~100nm的背面导电膜层,背面导电膜层背面印刷有背面电极。

本发明的有益效果是:用多层nc-Si:H层代替a-Si能解决较多薄膜电池的光致衰减效应的问题。在P型晶体硅基体上制备的SiO2层、Al2O3层具有很好的钝化作用,通过激光打孔形成点接触,提供一个可控界面态结构,提供可控界面,降低了对清洗工艺的要求;同时可以避免等离子体对硅基底的溅射损伤。多层nc-Si:H(i)层的存在,可以有效的降低界面态密度,使得重掺非晶硅薄膜表面的光生电子-空穴对复合减少,暗电流降低,提高了硅基薄膜电池的开压及填充因子。

附图说明

下面结合附图对本发明进一步说明。

图1是本发明的结构示意图;

具体实施方式

现在结合附图对本发明作进一步的说明。这些附图均为简化的示意图仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。

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