[发明专利]放射线检查装置有效
申请号: | 201210047918.2 | 申请日: | 2012-02-27 |
公开(公告)号: | CN102650602A | 公开(公告)日: | 2012-08-29 |
发明(设计)人: | 大日方祐彦;堀越久美子 | 申请(专利权)人: | 横河电机株式会社 |
主分类号: | G01N23/16 | 分类号: | G01N23/16 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 检查 装置 | ||
1.一种放射线检查装置,其使用放射线检查检查对象物,其特征在于,具有:
放射线源,其配置在上述检查对象物的一侧,向上述检查对象物照射线状的放射线,该线状的放射线沿在上述检查对象物上设定的检查方向延伸;
线型检测器,其配置在上述检查对象物的另一侧,检测穿过上述检查对象物的线状的放射线;
校正用检测器,其配置在上述放射线源与上述检查对象物之间及上述检查对象物与上述线型检测器之间的至少一处,一边沿上述检查方向移动,一边检测来自上述放射线源的放射线;以及
校正装置,其使用上述校正用检测器的检测结果,校正上述线型检测器的检测结果。
2.如权利要求1所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述校正用检测器配置在上述放射线源与上述检查对象物之间,
上述校正装置设有除法运算部,其对于上述检查方向上的每一个检查位置,用上述线型检测器的检测结果除以上述校正用检测器的检查结果。
3.如权利要求1所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述校正用检测器配置在上述检查对象物与上述线型检测器之间,
上述校正装置具有:第1运算部,其根据上述线型检测器的检测结果,对于上述检查方向上的每个检查位置,求出上述检查对象物的厚度;
第2运算部,其根据上述校正用检测器的检测结果,对于上述检查方向上的每个检查位置,求出上述检查对象物的厚度;
校正值计算部,其对于上述检查方向上的每个检查位置,求出表示由第1、第2运算部求出的上述检查对象物的厚度之差的校正值;以及
校正部,其对于上述检查方向上的每个检查位置,用由上述校正值计算部求出的校正值对由上述第1运算部求出的上述检查对象物的厚度进行校正。
4.如权利要求1所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述检查方向设定为与上述检查对象物的输送方向相交叉的方向。
5.如权利要求2所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述除法运算部使用上述检查方向上的预先确定的原点位置处的上述线型检测器及上述校正用检测器的检测结果的比值,使上述线型检测器的检测结果标准化。
6.如权利要求2所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述检查方向设定为与上述检查对象物的输送方向相交叉的方向。
7.如权利要求3所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述校正值计算部使用由上述第1运算部求出的上述检查方向上的预先确定的原点位置处的上述检查对象物的厚度,和由上述第2运算部求出的上述原点位置处的上述检查对象物的厚度之差,使由上述第1、第2运算部求出的上述检查对象物的上述原点位置的厚度同值化。
8.如权利要求3所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述校正用检测器除了配置在上述检查对象物与上述线型检测器之间之外,还配置在上述放射线源和上述检查对象物之间,
上述校正装置具有除法运算部,其对于上述检查方向上的每个检查位置,用上述第1运算部使用的上述线型检测器的检测结果除以配置在上述放射线源与上述检查对象物之间的第1校正用检测器的检查结果,并且,用上述第2运算部使用的、配置在上述检查对象物与上述线型检测器之间的第2校正用检测器的检测结果除以上述第1校正用检测器的检测结果。
9.如权利要求3所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述检查方向设定为与上述检查对象物的输送方向相交叉的方向。
10.如权利要求5所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述检查方向设定为与上述检查对象物的输送方向相交叉的方向。
11.如权利要求7所述的放射线检查装置,其特征在于,
上述校正用检测器除了配置在上述检查对象物与上述线型检测器之间之外,还配置在上述放射线源和上述检查对象物之间,
上述校正装置具有除法运算部,其对于上述检查方向上的每个检查位置,用上述第1运算部使用的上述线型检测器的检测结果除以配置在上述放射线源与上述检查对象物之间的第1校正用检测器的检查结果,并且,用上述第2运算部使用的、配置在上述检查对象物与上述线型检测器之间的第2校正用检测器的检测结果除以上述第1校正用检测器的检测结果。
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