[发明专利]纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法无效

专利信息
申请号: 201210048569.6 申请日: 2012-02-28
公开(公告)号: CN103295636A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 王琴;杨潇楠;王永;张满红;霍宗亮;刘明 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G11C16/10 分类号: G11C16/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 纳米 晶浮栅 存储器 阵列 编程 方法
【权利要求书】:

1.一种纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法,所述阵列包括多个纳米晶浮栅存储器、多条相互平行排列的位线和多条相互平行排列的字线,其中,每个纳米晶浮栅存储器包括一个存储单元,且每个存储单元连接一条位线和一条字线,所述多条位线与所述多条字线相互垂直排列,其特征在于:

当对所选定存储单元进行编程时,该方法包括如下步骤:

将与所选定存储单元连接的位线之前的第二条位线接地;

对与所选定存储单元连接的位线之前的第一条位线施加电压Vl

对与所选定存储单元连接的位线施加电压Vh

所述Vl小于Vh

2.如权利要求1所述的纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法,其特征在于:将与未选定存储单元连接的位线浮空。

3.如权利要求1所述的纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法,其特征在于:所述多条字线浮空。

4.如权利要求1所述的纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法,其特征在于:所述Vl为4~5V。

5.如权利要求1所述的纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法,其特征在于:所述Vh为10~15V。

6.如权利要求1所述的纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法,其特征在于,所述纳米晶浮栅存储器的存储单元包括纳米晶浮栅层(3),其作为纳米晶浮栅存储器的存储介质。

7.如权利要求6所述的纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法,其特征在于,所述纳米晶浮栅存储器的存储单元还包括:

硅衬底(1),在硅衬底(1)上具有重掺杂的源导电区(6)和漏导电区(7)。

8.如权利要求7所述的纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法,其特征在于,所述纳米晶浮栅存储器的存储单元还包括:

隧穿层(2),其覆盖于所述源导电区(6)和漏导电区(7)之间的载流子沟道上,并且,所述纳米晶浮栅层(3)覆盖在该隧穿层(2)上。

9.如权利要求8所述的纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法,其特征在于,所述纳米晶浮栅存储器的存储单元还包括:

控制栅介质层(4),其覆盖于纳米晶浮栅层(3)上。

10.如权利要求9所述的纳米晶浮栅存储器阵列的编程方法,其特征在于,所述纳米晶浮栅存储器的存储单元还包括:

栅电极层(5),其覆盖于控制栅介质层(4)上。

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