[发明专利]磁共振成像装置有效
申请号: | 201210055807.6 | 申请日: | 2012-03-05 |
公开(公告)号: | CN102764122A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
发明(设计)人: | 山中正昭 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王轶;李洋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 | ||
1.一种磁共振成像装置,其特征在于,具备:
存储部,其针对每个摄像的位置存储对基于涡流磁场的影响进行校正的涡流校正参数;
涡流校正部,其接受按照摄像条件而计算的倾斜磁场的波形,并对于接受到的倾斜磁场的波形,进行基于根据上述位置而选择的涡流校正参数的计算,并对于倾斜磁场电源输出作为计算结果而得到的校正后的波形;
倾斜磁场电源,其接受上述校正后的波形,并按照上述校正后的波形来施加倾斜磁场。
2.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述存储部针对每个摄像的位置存储对基于短时间常数的涡流磁场的影响进行校正的上述涡流校正参数。
3.根据权利要求2所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述存储部还针对每个摄像的位置存储对基于长时间常数的涡流磁场的影响进行校正的上述涡流校正参数。
4.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述涡流校正部针对每个涡流校正参数具备多个,
各涡流校正部分开进行使用了对应的涡流校正参数的计算。
5.根据权利要求2所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述涡流校正部针对每个涡流校正参数具备多个,
各涡流校正部分开进行使用了对应的涡流校正参数的计算。
6.根据权利要求3所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述涡流校正部针对每个涡流校正参数具备多个,
各涡流校正部分开进行使用了对应的涡流校正参数的计算。
7.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
还具备选择部,其根据上述摄像条件来选择根据摄像条件而预先分类的涡流校正参数的组,
上述涡流校正部从被选择出的上述涡流校正参数的组中,选择根据摄像位置的涡流校正参数并进行上述计算。
8.根据权利要求2所述的磁共振成像装置,其特征在于,
还具备选择部,其根据上述摄像条件来选择根据摄像条件而预先分类的涡流校正参数的组,
上述涡流校正部从被选择出的上述涡流校正参数的组中,选择根据摄像的位置的涡流校正参数并进行上述计算。
9.根据权利要求3所述的磁共振成像装置,其特征在于,
还具备选择部,其根据上述摄像条件来选择根据摄像条件而预先分类的涡流校正参数的组,
上述涡流校正部从被选择出的上述涡流校正参数的组中,选择根据摄像的位置的涡流校正参数并进行上述计算。
10.根据权利要求4所述的磁共振成像装置,其特征在于,
还具备选择部,其根据上述摄像条件来选择根据摄像条件而预先分类的涡流校正参数的组,
上述涡流校正部从被选择出的上述涡流校正参数的组中,选择根据摄像的位置的涡流校正参数并进行上述计算。
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