[发明专利]非挥发性存储器的数据自动比较测试电路

权利要求书

1.一种非挥发性存储器的数据自动比较测试电路，其特征在于，数据自动比较测试电路包括：地址累加器、地址映射选择器、系统控制器、地址边界控制器；

所述系统控制器为所述地址累加器、所述地址映射选择器和所述地址边界控制器提供控制信号；

所述地址累加器由n位地址寄存器组成，用于完成数据自动比较测试电路的测试电路地址的加减；

所述地址映射选择器在所述系统控制器的控制信号的控制下，实现所述地址累加器中的所述测试电路地址和非挥发性存储器中的非挥发性存储器地址之间的映射，并按照映射关系产生所述非挥发性存储器地址；

所述地址边界控制器由段地址产生模块和段地址计算模块组成；

所述段地址产生模块用于将所述非挥发性存储器分割成多个数据段，所述数据段的个数由所述系统控制器决定；

所述段地址计算模块根据所述数据段的划分，计算各所述数据段的地址边界以及产生分段比较的停止条件。

2.如权利要求1所述的非挥发性存储器的数据自动比较测试电路，其特征在于：所述非挥发性存储器地址包括行地址、列地址和块地址，所述地址累加器的位宽n为所述非挥发性存储器地址的所述行地址、所述列地址和所述块地址的宽度的和。

3.如权利要求1或2所述的非挥发性存储器的数据自动比较测试电路，其特征在于：所述测试电路地址和所述非挥发性存储器地址之间的映射关系共有六种，分别为：8位数据行比较映射、16位数据行比较映射、32位数据行比较映射、8位数据列比较映射、16位数据列比较映射、32位数据列比较映射。

4.如权利要求1所述的非挥发性存储器的数据自动比较测试电路，其特征在于：

所述段地址产生模块中包括数据段大小寄存器，通过设置数据段大小寄存器的值来设置所述数据段的大小；

所述段地址产生模块中包括数据段个数寄存器，通过设置数据段个数寄存器的值来设置需要进行比较测试的所述数据段的个数；

所述段地址计算模块中包括段边界寄存器，在该段边界寄存器中设定各所述数据段的地址边界值，各所述数据段的地址边界值为各所述数据段对应的所述测试电路地址的最大地址值；

所述段地址计算模块根据所述数据段大小寄存器的值、所述数据段个数寄存器的值和各所述数据段的地址边界值计算出分段比较的停止条件。

5.如权利要求1所述的非挥发性存储器的数据自动比较测试电路，其特征在于：所述数据自动比较测试电路还包括比较方式选择器，用于设定比较方式，比较方式共有四种，分别为：行加、行减、列加和列减。

6.如权利要求1所述的非挥发性存储器的数据自动比较测试电路，其特征在于：所述数据自动比较测试电路还包括最大位数选择器，用于设定用于比较的数据的位宽，数据的位宽共有3种，分别为：8位、16位和32位。