[发明专利]集成电路高压大电流测试装置有效

专利信息
申请号: 201210074042.0 申请日: 2012-03-20
公开(公告)号: CN102636735A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 钟锋浩;韩笑;叶键波;王维 申请(专利权)人: 杭州长川科技有限公司
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12;G01R31/28
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 尉伟敏
地址: 310052 浙江省杭州市滨江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 高压 电流 测试 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及集成电路测试设备领域,尤其是一种测试效率高且安全性好的集成电路高压大电流测试装置。

背景技术

为确保安全,集成电路需要进行耐高压及大电流测试;由于集成电路成批生产,测试工作量很大且安全性要求高,为了克服目前由操作人员用测试仪器进行集成电路高压大电流的测试,存在测试效率低且安全性差的不足,因此,设计一种测试效率高且安全性好的集成电路高压大电流测试装置,成为亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是为了克服目前集成电路高压大电流的测试,存在测试效率低且安全性差的不足,提供一种测试效率高且安全性好的集成电路高压大电流测试装置。

本发明的具体技术方案是:

一种集成电路高压大电流测试装置,所述的集成电路高压大电流测试装置包括底板、送料轨道、安装板、金手指、用于固定金手指的固定绝缘座、用于放置被测集成电路的测试绝缘座、测试机构和用于推动金手指与集成电路的测试端头接触的推动机构;所述的安装板和固定绝缘座分别位于送料轨道的相对两侧,送料轨道、安装板和固定绝缘座分别与底板固定连接;所述的测试绝缘座位于送料轨道设有的凹槽处并与送料轨道固定连接;所述的测试机构和推动机构分别与安装板固定连接。该集成电路高压大电流测试装置使用时,与其配合使用的步进送料装置把被测集成电路通过送料轨道送到测试绝缘座中,推动机构推动金手指与集成电路的测试端头接触,然后测试机构下压到集成电路的塑封体及散热片上,测试机构与金手指、测试仪器和集成电路构成回路,给集成电路加高电压进行高压大电流测试;该集成电路高压大电流测试装置可方便地作为集成电路自动生产测试线的组成部分应用。该集成电路高压大电流测试装置测试效率高且安全性好。

作为优选,所述的送料轨道包括底轨和盖板,测试绝缘座包括座底和座盖;所述的底轨和盖板之间相对于固定绝缘座的一侧沿长度方向设有送料槽;所述的座底和座盖之间设有与送料槽连通的测试座槽;所述的座盖的上端面设有与测试座槽贯通的测试通孔。送料轨道和固定绝缘座的结构便于制造和便于集成电路测试。

作为优选,所述的测试机构包括若干根测杆、测杆绝缘座和驱动机构;所述的测杆的一端与测试通孔相对,测杆的另一端与测杆绝缘座固定连接;所述的驱动机构分别与测杆绝缘座和安装板固定连接。测试机构结构简单实用。

作为优选,所述的驱动机构包括驱动气缸、弹性缓冲板、导柱和导向块;所述的驱动气缸和导向块分别位于安装板的相对两侧并与安装板固定连接;所述的弹性缓冲板位于安装板的上方,弹性缓冲板的两端分别与驱动气缸的驱动缸杆和导柱的一端固定连接,导柱的另一端穿过导向块设有的与导柱匹配的导向孔与测杆绝缘座固定连接。导柱和导向块使测杆升降平稳,弹性缓冲板使测杆与被测集成电路接触良好又使被测集成电路不受损伤。

作为优选,所述的测杆绝缘座的材料为MC尼龙。MC尼龙具有良好的电绝缘性、耐磨性、耐腐蚀性、减震性和减噪性且密度小重量轻。

作为优选,所述的推动机构包括推动气缸和绝缘压块;所述的推动气缸与安装板相对于固定绝缘座的一侧端固定连接,推动气缸的推动缸杆与绝缘压块的上端固定连接。推动机构结构简单实用。

作为优选,所述的推动气缸为不转杆气缸。使绝缘压块不转动利于推动金手指与集成电路的测试端头接触。

作为优选,所述的绝缘压块的下端设有弧形压面。利于推动金手指与集成电路的测试端头接触。

作为优选,所述的测试绝缘座的材料为氧化锆陶瓷。氧化锆具有良好的耐腐蚀、耐磨损、耐高温、不导磁、不导电、强度高、刚性好、比重轻等特性。

作为优选,所述的固定绝缘座的材料为聚四氟乙烯。聚四氟乙烯具有优良的介电性能,绝缘性能好、击穿电压高、耐电弧性好、而且其电绝缘性不受环境及频率的影响。

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