[发明专利]一种多点红外触摸屏触摸识别方法及系统有效
申请号: | 201210083608.6 | 申请日: | 2012-03-27 |
公开(公告)号: | CN103365480B | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | 王武军;刘新斌;周广道 | 申请(专利权)人: | 北京汇冠新技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100015 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多点 红外 触摸屏 触摸 识别 方法 系统 | ||
1. 一种多点红外触摸屏触摸识别方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
A、对所述红外触摸屏依次在第一方向和与之垂直的第二方向上进行扫描,获取第一扫描数据,根据所述第一扫描数据获取准触摸点集;
B、对所述红外触摸屏在第一方向或者第二方向上进行两次偏轴扫描,获取第二扫描数据,两次偏轴扫描的扫描线的斜率符号相反,根据所述第二扫描数据获取校准触摸点集;
C、利用所述校准触摸点集校准所述准触摸点集获得真实触摸点。
2. 根据权利要求1所述的多点红外触摸屏触摸识别方法,其特征在于,所述触摸识别方法为两点触摸识别方法,在步骤A和步骤B之间还包括下列步骤:
判断所述准触摸点集中准触摸点的个数是否为4,若是,则执行步骤B,否则将所述准触摸点集中的准触摸点直接识别为真实触摸点。
3.根据权利要求2所述的多点红外触摸屏触摸识别方法,其特征在于,步骤B具体为:
沿第一方向对所述红外触摸屏进行第一偏轴扫描,所述第一偏轴扫描的扫描线相互平行,对第一偏轴扫描数据进行处理获取被触摸物遮挡的第一类遮挡区域;
沿第一方向对所述红外触摸屏进行第二偏轴扫描,该第二偏轴扫描的扫描线的斜率与所述第一偏轴扫描的扫描线的斜率大小相等,对第二偏轴扫描数据进行处理获取被触摸物遮挡的第二类遮挡区域;
在所述第一类遮挡区域与所述第二类遮挡区域的重叠区域中选取与所述第一方向垂直的红外触摸屏的第一边距离最近的第一个重叠区域,根据该第一个重叠区域获取所述校准触摸点集中的第一个校准触摸点;
在所述第一类遮挡区域与所述第二类遮挡区域的重叠区域中选取与所述第一方向垂直的红外触摸屏的第二边距离最近的第二个重叠区域,根据该第二个重叠区域获取所述校准触摸点集中的第二个校准触摸点。
4.根据权利要求3所述的多点红外触摸屏触摸识别方法,其特征在于,
步骤C具体为:
计算所述第一个校准触摸点和所述第二个校准触摸点的连线的斜率作为第一斜率;
计算所述准触摸点集中的四个准触摸点组成的四边形的一个对角线的斜率作为第二斜率;
判断所述第二斜率与所述第一斜率的符号是否相同,若相同,则将位于所述四边形的该第二斜率对应的对角线上的两个准触摸点定位为真实触摸点,否则,将位于所述四边形的另一个对角线上的两个准触摸点定位为真实触摸点。
5.根据权利要求3所述的多点红外触摸屏触摸识别方法,其特征在于,
步骤C具体为:
计算所述第一个校准触摸点与所述第二个校准触摸点的连线的斜率作为第一斜率;
分别计算所述准触摸点集中的四个准触摸点组成的四边形的主对角线的斜率作为第二斜率和副对角线的斜率作为第三斜率;
分别计算所述第一斜率与所述第二斜率、所述第一斜率与所述第三斜率的差值,若所述第一斜率与所述第二斜率的差值的绝对值小于所述第一斜率与所述第三斜率的差值的绝对值,则将位于所述四边形的主对角线上的两个准触摸点定位为真实触摸点,否则,将位于所述四边形的副对角线上的两个准触摸点定位为真实触摸点。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的多点红外触摸屏触摸识别方法,其特征在于,步骤A具体为:
沿第一方向对所述红外触摸屏进行一对多的发散扫描,依次记录扫描线中被每一个触摸物遮挡的第一方向扫描遮挡区域;
沿第二方向对所述红外触摸屏进行一对多的发散扫描,依次记录扫描线中被每一个触摸物遮挡的第二方向扫描遮挡区域;
分别将第一方向扫描遮挡区域和第二方向扫描遮挡区域进行相交,根据相交后的重叠区域获得包含所有准触摸点的准触摸点集。
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