[发明专利]一种多点红外触摸屏触摸识别方法及系统有效
申请号: | 201210083608.6 | 申请日: | 2012-03-27 |
公开(公告)号: | CN103365480B | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | 王武军;刘新斌;周广道 | 申请(专利权)人: | 北京汇冠新技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100015 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多点 红外 触摸屏 触摸 识别 方法 系统 | ||
技术领域
本发明涉及红外触摸屏触摸识别技术,尤其涉及一种多点红外触摸屏的触摸识别方法及系统。
背景技术
随着多媒体技术的发展,触摸屏作为一种简单方便的人机交互设备得到广泛应用。目前,触摸屏的种类主要包括电阻式触摸屏、电容式触摸屏、表面声波触摸屏、光学触摸屏和红外触摸屏等。作为触摸屏的一个分支,红外触摸屏以其安装方便、免维护、高抗爆性、高可靠性等优点被广泛应用在各个领域,如图1所示,红外触摸屏的常用结构是在触摸屏四周按一定顺序安装多个红外发射管101和红外接收管102,这些红外发射管101和红外接收管102沿触摸屏的边缘排列,形成红外发射和接收管对,红外发射管101和红外接收管102之间的光线在显示屏幕的前方形成纵横交叉的红外扫描网络,通过检测手指等触摸物所隔断的红外光线,实现触摸物位置的检测,这种检测方式只能检测一个触摸点,对于两个或以上触摸点同时操作时,系统将计算错误的坐标位置,导致识别出的触摸点不是真实的触摸点。
随着科技的发展,关于触摸技术的创新与发展也在不断进行,红外触摸屏的发展经历了从识别单点,到识别两点,甚至到识别多点的过程,业内针对多点触摸(包括两点触摸)无法识别的问题作了许多有益的尝试,如通过设计复杂的辅助判断电路来增强红外触摸屏对多个触摸点的判断能力,在红外触摸屏的外边缘增加一个或两个摄像头来区分多个触摸点等等,这些方法都需要改变现有红外触摸屏的硬件结构,相应也增加了较多的成本。
发明内容
针对现有技术中存在的缺陷,本发明所要解决的技术问题是提供一种不改变现有红外触摸屏的硬件结构就可以有效识别多个触摸点的多点红外触摸屏触摸识别方法及系统。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案如下:
一种多点红外触摸屏触摸识别方法,所述方法包括以下步骤:
A、对所述红外触摸屏依次在第一方向和与之垂直的第二方向上进行扫描,获取第一扫描数据,根据所述第一扫描数据获取准触摸点集;
B、对所述红外触摸屏在第一方向或者第二方向上进行两次偏轴扫描,获取第二扫描数据,两次偏轴扫描的扫描线的斜率符号相反,根据所述第二扫描数据获取校准触摸点集;
C、利用所述校准触摸点集校准所述准触摸点集获得真实触摸点。
如上所述的多点红外触摸屏触摸识别方法,所述触摸识别方法为两点触摸识别方法,在步骤A和步骤B之间还包括下列步骤:
判断所述准触摸点集中准触摸点个数是否为4,若是,则执行步骤B,否则将所述准触摸点集中的准触摸点直接识别为真实触摸点。
如上所述的多点红外触摸屏触摸识别方法,步骤B具体为:
沿第一方向对所述红外触摸屏进行第一偏轴扫描,所述第一偏轴扫描的扫描线相互平行,对第一偏轴扫描数据进行处理获取被触摸物遮挡的第一类遮挡区域;
沿第一方向对所述红外触摸屏进行第二偏轴扫描,该第二偏轴扫描的扫描线的斜率与所述第一偏轴扫描的扫描线的斜率大小相等,对第二偏轴扫描数据进行处理获取被触摸物遮挡的第二类遮挡区域;
在所述第一类遮挡区域与所述第二类遮挡区域的重叠区域中选取与所述第一方向垂直的红外触摸屏的第一边距离最近的第一个重叠区域,根据该第一个重叠区域获取所述校准触摸点集中的第一个校准触摸点;
在所述第一类遮挡区域与所述第二类遮挡区域的重叠区域中选取与所述第一方向垂直的红外触摸屏的第二边距离最近的第二个重叠区域,根据该第二个重叠区域获取所述校准触摸点集中的第二个校准触摸点。
如上所述的多点红外触摸屏触摸识别方法,可选地,步骤C具体为:
计算所述第一个校准触摸点和所述第二个校准触摸点的连线的斜率作为第一斜率;
分别计算所述准触摸点集中的四个准触摸点组成的四边形的一个对角线的斜率作为第二斜率;
判断所述第二斜率与所述第一斜率的符号是否相同,若相同,则将位于所述四边形的该第二斜率对应的对角线上的两个准触摸点定位为真实触摸点,否则,将位于所述四边形的另一个对角线上的两个准触摸点定位为真实触摸点。
如上所述的多点红外触摸屏触摸识别方法,可选地,步骤C具体为:
计算所述第一个校准触摸点与所述第二个校准触摸点的连线的斜率作为第一斜率;
计算所述准触摸点集中的四个准触摸点组成的四边形的主对角线的斜率作为第二斜率和副对角线的斜率作为第三斜率;
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