[发明专利]生产流程和可复用测试方法有效
申请号: | 201210084621.3 | 申请日: | 2012-03-27 |
公开(公告)号: | CN103035549A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 王敏哲;彭经能;林鸿志;陈颢 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京德恒律师事务所 11306 | 代理人: | 陆鑫;房岭梅 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 生产流程 可复用 测试 方法 | ||
1.一种方法,包括:
提供包括管芯区域的基板,所述管芯区域包括焊盘图案的多个部分,所述多个部分中的第一部分中的每一个均包括第一一致焊盘图案;
通过第一探针板探测所述第一部分中的第一个;
将所述第一探针板移动至所述第一部分的第二个;以及
通过所述第一探针板探测所述第一部分的所述第二个。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述基板包括晶圆,所述晶圆包括有源管芯。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述基板包括晶圆,所述晶圆包括插入件,所述管芯区域位于所述插入件上方。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,提供所述基板的步骤包括在所述基板中形成所述管芯区域,形成所述管芯区域的步骤包括:将伪焊盘插入所述第一部分中的所述第一个、所述第一部分中的所述第二个、或者其组合。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个部分中的每一个均包括所述第一一致焊盘图案。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个部分中的第二部分包括与所述第一一致焊盘图案不同的非一致焊盘图案,并且所述方法进一步包括通过第二探针板探测所述第二部分。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个部分中的第二部分中的每一个均包括第二一致焊盘图案,所述第一部分和所述第二部分在所述管芯区域中交替,所述第一探针板同时探测所述第一部分,并且所述方法进一步包括:通过所述第一探针板同时探测所述第二部分。
8.根据权利要求7所述的方法,进一步包括:通过第二探针板探测所述多个部分中的第三部分。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述管芯区域包括:第一模块和第二模块,所述第一模块包括所述第一部分中的第一个,并且所述第二模块包括所述第一部分中的第二个。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述第一模块和所述第二模块中的每一个包括模块对准标记,探测所述第一部分中的所述第一个的步骤和探测所述第一部分中的所述第二个的步骤均包括分别使用所述第一模块的模块对准标记和所述第二模块的模块对准标记。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210084621.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种组合式室外机底盘结构
- 下一篇:船用空调回风净化装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造