[发明专利]基于荧光偏振的EGFR基因启动子甲基化状态均相检测法有效
申请号: | 201210089332.2 | 申请日: | 2012-03-30 |
公开(公告)号: | CN102618645A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 张菊;姜英浩;梁平;王萌;强少盈;颜真 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军第四军医大学 |
主分类号: | C12Q1/68 | 分类号: | C12Q1/68;C12N15/11;G01N21/64 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 黄秦芳 |
地址: | 710032 陕西省西安市长乐西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 荧光 偏振 egfr 基因 启动子 甲基化 状态 均相 检测 | ||
技术领域:
本发明涉及EGFR基因启动子甲基化状态的检测领域。尤其涉及一种均相检测法,其通过改变荧光偏振值以监测样品中存在的EGFR基因启动子甲基化状态。
背景技术:
表皮生长因子受体(epidermal growth factorreceptor,EGFR) 基因位于7号染色体p13~q22区,全长约200kb,是HER/ERB-B跨膜受体激酶家族成员之一,由胞外段、跨膜区和胞内激酶活性区构成。EGFR胞外段的主要功能是结合表皮生长因子(EGF)等配体,激活胞内段酪氨酸激酶活性,启动信号传导通路,在组织中起到调节细胞增殖、分化的作用。EGFR基因5′调控区包括1个富含GC岛的启动子,CpG岛的异常高甲基化并没有改变基因序列,却可以调控基因的表达,导致转录失活,使该基因表达沉默。EGFR的表达受其启动子DNA甲基化调控,EGFR的转录沉默与CpG岛高甲基化相关。部分实体瘤患者EGFR低表达或不表达,EGFR转录沉默且CpG岛呈现高甲基化,EGFR靶向药疗效差。EGFR基因异常甲基化是多种癌肿发生的一个早期事件,可以作为多种癌肿早期诊断的分子标志物和预防的检测。并且,DNA甲基化是可以逆转的过程,抑制DNA甲基化,使已发生甲基化的基因去甲基化,激活沉默失活的基因,可作为肿瘤治疗的新途径。因此,EGFR基因启动子甲基化检测不仅广泛用于表观遗传学研究,也能预警肿瘤发生、预测疗效,为肿瘤早期诊断、预后判定及指导预见性个体化用药提供依据。而且DNA甲基化不仅存在于组织中,在外周血、积液和痰液中均可检出,这一优点对相关的表观遗传学研究及开展早期、敏感无创的诊断意义重大。
目前,国外对EGFR基因启动子甲基化状态的测定分析方法已有一些报道,如Bisulfite Sequencing PCR (BSP)、 MSP(methylation Specific PCR)、COBRA assay、DHPLC、Methylight、微阵列、焦测序技术等技术方法,这些检测方法需要多种反应步骤、、操作复杂,检测多需洗脱纯化待检分子和电泳检测,多步后处理费时费力、成本高,仪器设备昂贵,不能做到既简单快速完成反应又简单客观检测分析,效率有待提高,因而难于推广应用。
因此,需要获得一种操作简便、特异准确、易标准化和自动化、低成本的基因甲基化液相检测新方法。
本发明的实施方案提供了一种测定样品中EGFR基因启动子甲基化状态的均相检测法,该方法以荧光偏振的测量为基础。荧光偏振技术的原理如下:具有较低分子量的荧光探针由于其快速旋转而具有较小偏振度,而具有较大分子量的荧光探针由于其慢速旋转而具有较大偏振度。因此,当与较大分子结合时,荧光团的偏振度增大,荧光偏振数值增加。
发明内容:
本发明涉及一种用于测定样品中EGFR基因启动子甲基化状态的均相检测法,所述均相检测法包括下列步骤:(1)从样品中得到提取物:使用一种试剂或试剂盒从待测样品中提取基因组DNA,再用另一种试剂或试剂盒处理基因组DNA并纯化,得到纯化的提取物;(2)扩增结合:将上述纯化的提取物加入反应试剂进行扩增结合,所述反应试剂包括10倍的PCR缓冲液,浓度各为 2.0~2.5mmol/L的dNTP,2.0~3.5mmol/L的MgCl2,1-5U/μl的TaqDNA聚合酶,浓度为0.5-2.0μmol/L的EGFR基因的启动子靶CpG岛区甲基化和非甲基化上游引物、下游引物,以及浓度为0.05-0.2μmol/L的靶基因的5’端带荧光标记的探针,所述反应条件是:94-95℃变性4-10min后,95℃孵育5-40秒,55-65℃孵育15-60秒,72℃孵育10-60秒,35-45个循环,最后室温15-30℃孵育;(3):检测:检测反应溶液的荧光偏振FP值,SPSS软件计算FP均值(means)和标准差(S.D.),t检验统计阴性、阳性对照反应终液FP值分布,阳性临界值Cut-off=阴性对照FP均值(means)-阴性对照FP标准差(S.D.),阴性临界值Cut-off=阴性对照FP均值(means)+阴性空白对照FP标准差(S.D.),待测样品FP值与Cut-off值比较即知靶区域CpG位点甲基化状态:
待测样品FP值>阴性临界值 Cut-off值,靶区域CpG位点为非甲基化状态,
待测样品FP值<阳性临界值Cut-off值,靶区域CpG位点为甲基化状态,
阳性临界值Cut-off值<待测样品FP值<阴性临界值Cut-off,则靶区域CpG位点甲基化状态无法判断,需重新检测。
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