[发明专利]存储卡的测试装置无效
申请号: | 201210090234.0 | 申请日: | 2012-03-30 |
公开(公告)号: | CN103366830A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 苏瑞贤;欧富国 | 申请(专利权)人: | 点序科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 测试 装置 | ||
1.一种存储卡的测试装置,用以测试一存储卡,其特征在于,包括:
一读卡机,连接该存储卡;以及
一主机端,通过一通用串行总线接口耦接该读卡机,并通过该读卡机与该存储卡传送一写入指令以对该存储卡进行数据写入,该存储卡并通过该读卡机传送一读出结果至该主机端,该主机端依据该写入指令以及该读出结果来判断该存储卡是否损毁。
2.根据权利要求1所述的存储卡的测试装置,其中该存储卡具有一控制电路以及至少一闪速存储器模块。
3.根据权利要求2所述的存储卡的测试装置,其中该主机端通过该读卡机传送该写入指令至该控制电路,并使该控制电路对该闪速存储器模块进行写入动作。
4.根据权利要求2所述的存储卡的测试装置,其中该控制电路对该闪速存储器模块进行读出动作,并通过该读卡机传送该读出结果至主机端。
5.根据权利要求2所述的存储卡的测试装置,其中该主机端还包括通过该读卡机传送一固件程序至该存储卡的该控制电路中。
6.根据权利要求1所述的存储卡的测试装置,其中该主机端通过该写入指令对该存储卡的一受测地址写入一测试写入数据,并读取该存储卡的该受测地址以获得一测试读出数据,该主机端比对该测试写入数据以及该测试读出数据并藉以判断该存储卡的该受测地址是否损毁。
7.根据权利要求6所述的存储卡的测试装置,其中该写入指令包括一写入命令、该受测地址的逻辑地址以及该测试写入数据。
8.根据权利要求6所述的存储卡的测试装置,其中该读出结果包括一读出命令、该受测地址的逻辑地址以及该测试读出数据。
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