[发明专利]存储卡的测试装置

说明书

技术领域

本发明是有关于一种存储卡的测试装置。

背景技术

存储卡(memory card)是一种利用闪速存储器(flash memory)模块所组成的储存装置。这种存储卡常见应用于方便携带的多种消费性电子装置中，例如数码相机、音乐播放机及笔记本电脑等。在市面上，这种存储卡又可以分成很多格式，其中较常见的有安全数码卡(Secure Digital，SD)、闪存(Compact Flash，CF)及存储棒(Memory Stick，MS)等。

这种存储卡中通常具有用来存取闪速存储器的控制电路以及一个或多个的闪速存储器模块(其数量视存储卡的容量来决定)。在存储卡的生产流程中，为了测试包装好的存储卡中的闪速存储器模块及控制电路是否可以正常的工作，设计者常使用专门针对存储卡测试所设计的测试机台来完成存储卡的测试工作。这种测试机台的操作，通常必须要有专业的测试工程师来使用，然而，并不容易被使用。且这种测试机台本身的造价甚高，且不是很容易被取得。这都使得存储卡的测试工作的成本及难度相对的提高。

发明内容

本发明提供一种存储卡的测试装置，可以直接利用读卡机对存储卡进行测试。

本发明提出一种存储卡的测试装置，用以测试存储卡，包括读卡机以及主机端。读卡机连接存储卡。主机端通过通用串行总线接口耦接读卡机，并通过读卡机与存储卡传送写入指令以对存储卡进行数据写入。存储卡并通过读卡机传送读出结果至主机端，主机端依据写入指令以及读出结果来判断存储卡是否损毁。

在本发明的一实施例中，上述的存储卡具有控制电路以及至少一闪速存储器模块。

在本发明的一实施例中，上述的主机端通过读卡机传送写入指令至控制电路，并使控制电路对闪速存储器模块进行写入动作。

在本发明的一实施例中，上述的控制电路对闪速存储器模块进行读出动作，并通过读卡机传送读出结果至主机端。

在本发明的一实施例中，上述的主机端还包括通过读卡机传送固件程序至存储卡的控制电路中。

在本发明的一实施例中，上述的主机端通过写入指令对存储卡的受测地址写入测试写入数据，并读取存储卡的受测地址以获得测试读出数据。主机端比对测试写入数据以及测试读出数据并藉以判断存储卡的受测地址是否损毁。

在本发明的一实施例中，上述的写入指令包括写入命令、受测地址的逻辑地址以及测试写入数据。

在本发明的一实施例中，上述的读出结果包括读出命令、受测地址的逻辑地址以及测试读出数据。

基于上述，本发明利用市售的一般规格的读卡机，来达到对存储卡进行测试的目的。使得存储卡的测试不用再拘限一定要应用特殊的测试机台。使得存储卡的测试更为简单，并有效降低存储卡的测试成本。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所示附图作详细说明如下。

附图说明

图1绘示本发明的一实施例的存储卡的测试装置；

图2所绘示的本发明的另一实施例的存储卡的测试装置；

图3绘示本发明实施例的存储卡测试的流程图。

附图标记说明：

100、200：测试装置；

110、210：主机端；

120、220：读卡机；

170、270、280：存储卡；

271：控制电路；

2761～2763：闪速存储器模块；

CN1：串行总线接口；

S310、S320、S330、S370：测试步骤。

具体实施方式

请参照图1，图1绘示本发明的一实施例的存储卡的测试装置。存储卡测试装置100用以测试存储卡170，其中包括读卡机120以及主机端110。主机端110通过通用串行总线接口CN1连接读卡机120。读卡机120则耦接存储卡170(也就是将存储卡170插入读卡机120所设置的插槽中)。

当存储卡170的测试要进行时，首先，主机端110通过读卡机120与存储卡170之间传送写入指令以对存储卡170进行数据写入。并在完成存储卡170的数据写入动作后，主机端110通过读卡机120与存储卡170之间传送读出指令以对存储卡170进行数据读出。存储卡170则回应由读卡机120传至的读出指令并传出读出结果至主机端110。主机端110在获得了读出结果后，则依据写入指令以及读出结果进行比对，并藉以完成存储卡170的测试动作。