[发明专利]一种非破坏性检测表面形貌的方法有效
申请号: | 201210090888.3 | 申请日: | 2012-03-30 |
公开(公告)号: | CN103363946A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 宫建茹;崔金磊 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20;G01B21/30 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 郭广迅 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 破坏性 检测 表面 形貌 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种检测表面形貌的方法,具体涉及一种非破坏性地检测待测物体表面形貌的方法。
背景技术
随着机械设备逐渐向高速度、高精度等方面发展,人们对于机械零部件的性能提出了更高的要求。这些性能可以归纳为以下几个方面:(1)一般机械性能,包括韧性、塑性、硬度等;(2)抗磨性:抗磨料磨损、抗腐蚀磨损、润滑性等;(3)热特性:导热性、高温氧化性以及抗热冲击性等;(4)密封性;(5)保护性:抗酸碱盐腐蚀性、抗污染性、防锈性等。但是,零部件的表面形貌会对以上性能产生决定性的影响。
表面形貌是指零件表面的粗糙度、波度、形状误差以及纹理等不规则的微管几何形状。它主要是在零件加工过程中,由于刀具或磨料和零件的摩擦、切削分离时的塑性变形和金属撕裂,以及加工系统中的高频振动等原因,在表面残留而成的各种不同形状和尺寸的微管几何形貌。
根据测量原理,表面形貌的检测方法分为接触式和非接触式。接触式方法包括轮廓仪,其中较为著名的是Nanosurf系列。而非接触方法主要包括光学探针法和干涉显微镜法。但两类方法均存在各自的一些缺陷,例如,接触式方法需要使用极精细的探针,如AFM探针,这使得探针加工条件非常苛刻,并且探针容易损伤零部件的表面,而非接触式方法,如光学探针法和干涉显微镜法,依靠的是测量光程变化的原理,这就对光学器件的加工精度要求很高,导致其造价十分昂贵,且设备容易损坏,并且测量过程易受零部件表面和周围环境的影响,结果可信度较低。此外,目前检测表面形貌的仪器中还存在一些问题,例如,由于受到仪器和样品尺寸的制约,难以在任意尺寸的样品或样品表面的任意位置进行检测。
因此,目前还需要寻找一种简单便捷、成本低廉、测量精度高的用于表面形貌检测的方法。
发明内容
因此,本发明的目的在于克服目前检测表面形貌的常用方法及设备的缺陷,提供一种操作简单、成本低廉、测量精度高且不易受外界环境影响的非破坏性检测表面形貌的方法。
除非特别说明,本发明的紫外感光材料,是指一种可以在紫外光(UV)的照射下实现固化的材料,包括涂料、油墨、胶粘剂或其他灌封密封剂等。
本发明提供了一种非破坏性检测表面形貌的方法,该方法包括以下步骤:
1)将紫外感光材料涂覆在待测物体的表面;
2)采用紫外光照射使所述紫外感光材料固化,然后将固化后的紫外感光材料剥离,得到拓印膜;
3)使用原子力显微镜扫描所述拓印膜,得到拓印膜的表面形貌;
4)将所述拓印膜的表面形貌进行数据翻转,得到待测物体的表面形貌。
根据本发明的方法,其中,步骤1)中的所述紫外感光材料可以包含低聚物、光引发剂和稀释剂;所述低聚物可以为有机硅、脂环族环氧化合物、丙烯酸酯和乙烯基醚中的一种或多种,可以优选为MMA(甲基丙烯酸甲酯)。作为优选,所述低聚物在所述紫外感光材料中可以占94~97wt%。发明人发现,如果低聚物的含量过高,会使紫外感光材料的粘度增加,造成拓印膜不易剥离,而过低则又会使拓印膜的力学性质变差,容易断裂。
根据本发明的方法,其中,步骤1)中的所述紫外感光材料可以通过以下步骤制得:将94~97重量份的低聚物、1~2重量份的光引发剂和1~5重量份的稀释剂混合,以400~600r/min的速度搅拌10~15分钟,然后将混合液置于干燥器中并抽真空,放置2~3h,得到所述紫外感光材料。
根据本发明的方法,其中,所述光引发剂可以为芳香酮,可以优选为安息香(即2-羟基-1,2-二苯基乙酮)。
根据本发明的方法,其中,所述稀释剂可以为酮或煤油。作为优选,所述酮可以为C3~C12烷酮,可以更优选为丙酮、丁酮和环己酮中的一种或多种。
根据本发明的方法,其中,步骤1)中的所述紫外感光材料的涂覆厚度可以为0.3~0.7mm。发明人发现,如果厚度小于该范围,则拓印膜难以剥离且易折断,而如果厚度过大,则又造成不必要的浪费,经济性不佳。
根据本发明的方法,其中,步骤2)中,所述紫外光的波长为365nm。作为优选,固化时间可以为480~500s。发明人发现,如果时间长于该范围,即照射时间过长,会使拓印膜容易折断且不易剥离,而如果固化时间过短则无法使该紫外感光材料固化完全。
根据本发明的方法,其中,步骤3)中,所述原子力显微镜的扫描范围可以为50μm×50μm。发明人发现,采用该扫面范围不仅能够保持适合的扫描速度,还能兼顾较高分辨率,在检测速度和准确性之间取得了较好的平衡。
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