[发明专利]使用光波导的测定系统

权利要求书

1.一种测定系统，使用了光波导，其特征为，

具备：

光波导，具有固定化了与测定对象物质特异性结合的第1物质的感应区；

磁性微粒，固定化了与上述测定对象物质特异性结合的第2物质；

磁场施加部，生成使上述磁性微粒移动的磁场；

光源，使光入射到上述光波导；

受光元件，接收从上述光波导出射的光。

2.如权利要求1所述的测定系统，其特征为，

上述磁场施加部具有第1磁场施加部，上述第1磁场施加部施加使上述磁性微粒向远离上述光波导的方向移动的磁场。

3.如权利要求2所述的测定系统，其特征为，

上述第1磁场施加部施加具有如下磁场强度的磁场，该磁场强度使上述磁性微粒从上述感应区离开满足下面的公式的距离，L＞λ/{2π(n₁sin²θ-n₂²)^1/2}，

在此，L是上述磁性微粒离开上述感应区的距离，λ是用于测定的光的波长，n₁是上述光波导的折射率，n₂是使上述磁性微粒分散的分散介质的折射率，θ是全反射角。

4.如权利要求2所述的测定系统，其特征为，

上述磁场施加部具有第2磁场施加部，上述第2磁场施加部施加使上述磁性微粒向接近上述光波导的方向移动的磁场。

5.如权利要求4所述的测定系统，其特征为，

上述第1磁场施加部和上述第2磁场施加部交替地施加磁场。

6.如权利要求1所述的测定系统，其特征为，

上述磁场施加部具有电磁铁。

7.如权利要求6所述的测定系统，其特征为，

还具备控制部，该控制部控制由上述磁场施加部施加磁场的定时及时间长度中的至少一个。

8.如权利要求6所述的测定系统，其特征为，

还具备控制部，该控制部控制由上述磁场施加部施加的磁场的磁场强度。

9.如权利要求1所述的测定系统，其特征为，

上述磁性微粒包含具有超顺磁性的材料。

10.如权利要求1所述的测定系统，其特征为，

上述磁性微粒的粒径为0.2μm以上、20μm以下。

11.如权利要求1所述的测定系统，其特征为，

上述磁性微粒的各个磁性微粒具有内核和设置为覆盖上述内核的外壳，上述外壳包含磁性纳米微粒。

12.如权利要求1所述的测定系统，其特征为，

上述磁性微粒具有正电荷或负电荷。

13.如权利要求1所述的测定系统，其特征为，

上述磁性微粒添加了界面活性剂。

14.如权利要求1所述的测定系统，其特征为，

上述磁场施加部具备磁芯和设置于上述磁芯的线圈。

15.如权利要求14所述的测定系统，其特征为，

上述磁芯具有：多个磁芯部；连接部，以机械方式及磁方式将上述多个磁芯部各自的与上述感应区侧的端部相反侧的端部彼此连接；在上述多个磁芯部的上述感应区侧的端部彼此之间设置间隙。

16.如权利要求15所述的测定系统，其特征为，

上述感应区侧的端部的上述间隙侧的边与在上述光波导的内部传播光的方向平行。

17.如权利要求15所述的测定系统，其特征为，

在上述光波导的内部传播光的方向上，上述多个磁芯部的上述感应区侧的端面的长度为上述感应区的长度以上。

18.如权利要求15所述的测定系统，其特征为，

上述多个磁芯部的上述感应区侧的端部按相互接近的方向倾斜。

19.如权利要求15所述的测定系统，其特征为，

上述多个磁芯部具有随着接近上述感应区而剖面面积变小的形态。

20.如权利要求15所述的测定系统，其特征为，

上述多个磁芯部的上述感应区侧的端面是平坦面。