[发明专利]使用光波导的测定系统

说明书

相关申请的引用

本申请基于2011年3月30日提交的在先日本专利申请第2011-76412号、2011年9月14日提交的在先日本专利申请第2011-201221号及2012年1月23日提交的在先日本专利申请第2012-11456号的优先权的权益，且要求其权益，其内容整体通过引用而包含于此。

技术领域

这里说明的实施方式涉及使用光波导(optical waveguide)的测定系统。

背景技术

公知有利用抗原抗体反应的免疫测定方法。根据该方法，使用发生显色的标识体和试剂，利用光波导的瞬逝(evanescent)波测定出因显色引起的光的物理量变化。在该方法中，使用由发生显色的标识体所标识的抗体等，通常情况下，1个标识体对应于1个抗体。通过一对抗原和抗体的反应，只不过发生标识体1个部分的显色。从而，在检测显色量也就是测定对象物质的灵敏度上有限制，难以进一步谋求高灵敏度化。

另一方面，公知有如下光波导型传感器芯片，该光波导型传感器芯片使用把与测定对象物质特异性结合(specifically bonding)的抗体(antibody)固定化(fixed)的微粒、及把与测定对象物质特异性结合的抗体固定化的光波导，通过抗原抗体反应(antigen-antibody reaction)使之在光波导的表面介由测定对象物质结合微粒。由于利用光波导表面附近的瞬逝光来检测由通过抗原抗体反应而结合到光波导表面上的微粒所产生的吸光度，因而不用包括清洗剩余的检体或二次抗体的工序，就能够对测定对象物质进行定量。

但是，因为有时微粒不通过抗原抗体反应就吸附于光波导的表面，即便是这些不通过抗原抗体反应而吸附的微粒，也使光进行吸收、散射，所以有时在需要高检测灵敏度的测定中产生测定误差。

在任一个方法中，若假定了需要更高灵敏度检测的检查项目，则期望使测定对象物质的检测灵敏度提高到更高精度的技术开发。

发明内容

本发明的实施方式提供使用光波导的测定系统、测定装置及测定方法、光波导型传感器芯片以及磁性微粒，可以在增高了测定对象物质的检测灵敏度的情况下，以高精度检测测定对象物质。

根据一个实施方式，提供使用光波导的测定系统。测定系统具有光波导、磁性微粒、磁场施加部、光源及受光元件。光波导具有固定化了与测定对象物质特异性结合的第1物质的感应区。各个磁性微粒固定化了与上述测定对象物质特异性结合的第2物质。磁场施加部生成使上述磁性微粒移动的磁场。光源使光入射到上述光波导。受光元件接收从上述光波导出射的光。

根据上述结构，可以在增高了测定对象物质的检测灵敏度的情况下，以高精度检测测定对象物质。

附图说明

图1是概略表示第1实施方式所涉及的使用了光波导的测定系统的结构的附图。

图2A到2C是表示磁性微粒形态的示意图。

图3A到3C是表示对检体溶液中的测定对象物质进行测定的方法的工序的附图。

图4是表示采用上述方法测定出的光检测信号强度比的经时变化例的附图。

图5是表示由上述方法得到的测定结果的校准线的附图。

图6是概略表示第2实施方式所涉及的使用光波导的测定系统的结构的附图。

图7A到7C是表示对检体溶液中的测定对象物质进行测定的别的方法的工序的附图。

图8是概略表示第3实施方式所涉及的使用光波导的测定系统的结构的附图。

图9A到9C是表示对检体溶液中的测定对象物质进行测定的又一个方法的工序的附图。

图10A是说明磁场施加部一例所用的示意图，图10B是按箭头A的方向观察的图10A所示的磁场施加部的附图，图10C是图10A所示的磁场施加部的模式立体图。

图11A是说明磁场施加部另一例所用的示意图，图11B是按附图中从下往上的方向观察的图11A所示的磁场施加部的附图，图11C是图11A所示的磁场施加部的模式立体图。

图12A及12B是示例磁场施加部的作用及效果所用的曲线图。

图13A到13C是示例磁场施加部的作用及效果所用的曲线图。

图14A到14D是表示对检体溶液中的测定对象物质进行测定的方法的工序的附图。

图15是表示磁性微粒别的形态的示意图。

图16是表示磁性微粒又一形态的示意图。

图17A到17D是表示对检体溶液中的测定对象物质进行测定的其他方法的工序的附图。