[发明专利]测量元素点的图形化处理系统及方法

权利要求书

1.一种测量元素点的图形化处理方法，其特征在于，该方法包括：

获取步骤：获取并记录从待测工件上采集的测量元素点的坐标信息；

拟合步骤：利用所记录的测量元素点的坐标信息进行元素拟合，得到拟合偏差值最小的拟合元素以及该拟合元素的参数；

第一计算步骤：根据所述测量元素点的坐标信息及该拟合元素的参数，计算该拟合元素上各测量元素点的新向量；

第一绘制步骤：根据该拟合元素的参数、测量元素点的坐标及新向量，绘制所述拟合元素及该拟合元素上的测量元素点，并显示所绘制的拟合元素的参数调整窗口；

分布步骤：当参数调整窗口中的测量元素点的个数有更新时，重新分布所述拟合元素所包含的测量元素点，并记为新测量元素点；

第二计算步骤：根据预设的下行深度计算所述新测量元素点下行后的坐标；

第二绘制步骤：删除掉该拟合元素上的测量元素点，并利用所计算的新测量元素点下行后的坐标，在上述绘制出的拟合元素中绘制该下行后的新测量元素点。

2.如权利要求1所述的测量元素点的图形化处理方法，其特征在于，该方法还包括：

处理步骤：设定下行后新测量元素点的测量顺序，并根据所设定的测量顺序输出预设格式的机器程序。

3.如权利要求1所述的测量元素点的图形化处理方法，其特征在于，所述的参数调整窗口包括拟合元素类型、该拟合元素中所包含的测量元素点的个数以及预设的下行深度，该预设的下行深度为对待测工件进行测量的测针的直径。

4.如权利要求3所述的测量元素点的图形化处理方法，其特征在于，所述的分布步骤以向量与X坐标轴正方向同向的点作为新起始测量元素点，及利用更新后的个数N对拟合元素进行N等分，以得到N-1个新测量元素点。

5.如权利要求1所述的测量元素点的图形化处理方法，其特征在于，所述的拟合步骤是将所记录的测量元素点的坐标信息输入至测量工具进行元素拟合，该测量工具以六种特征元素类型对输入的点的坐标信息进行拟合，并输出拟合出的拟合元素的参数以及该拟合元素与所输入的点的拟合偏差值，所述六种特征元素类型包括点、线、面、圆、圆柱、球以及圆锥体。

6.一种测量元素点的图形化处理系统，其特征在于，该系统包括：

获取模块，用于获取从待测工件上采集的测量元素点的坐标信息并记录；

拟合模块，用于利用所记录的测量元素点的坐标信息进行元素拟合，得到拟合偏差值最小的拟合元素以及该拟合元素的参数；

第一计算模块，用于根据所述测量元素点的坐标信息及该拟合元素的参数，计算该拟合元素上各测量元素点的新向量；

第一绘制模块，用于根据该拟合元素的参数、测量元素点的坐标及新向量，绘制所述拟合元素及该拟合元素上的测量元素点，并显示所绘制的拟合元素的参数调整窗口；

分布模块，用于当参数调整窗口中的测量元素点的个数有更新时，重新分布所述的拟合元素中所包含的测量元素点，并记录为新测量元素点；

第二计算模块，用于根据预设的下行深度计算所述新测量元素点下行后的坐标；

第二绘制模块，用于删除掉该拟合元素上的测量元素点，并利用所计算的新测量元素点下行后的坐标，在上述绘制出的拟合元素中绘制该下行后的新测量元素点。

7.如权利要求6所述的测量元素点的图形化处理系统，其特征在于，该系统还包括：

处理模块，用于设定下行后新测量元素点的测量顺序，并根据所设定的测量顺序输出预设格式的机器程序。

8.如权利要求6所述的测量元素点的图形化处理系统，其特征在于，所述的参数调整窗口包括拟合元素类型、该拟合元素中所包含的测量元素点的个数以及预设的下行深度，该预设的下行深度为对待测工件进行测量的测针的直径。

9.如权利要求8所述的测量元素点的图形化处理系统，其特征在于，所述的分布模块以向量与X坐标轴正方向同向的点作为新起始测量元素点，及利用更新后的个数N对拟合元素进行N等分，以得到N-1个新测量元素点。

10.如权利要求6所述的测量元素点的图形化处理系统，其特征在于，所述的拟合模块通过将所记录的测量元素点的坐标信息输入至测量工具进行元素拟合，该测量工具以六种特征元素类型对输入的点的坐标信息进行拟合，并输出拟合出的拟合元素的参数以及该拟合元素与所输入的点的拟合偏差值，所述六种特征元素类型包括点、线、面、圆、圆柱、球以及圆锥体。