[发明专利]测量元素点的图形化处理系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种影像测量系统及方法，尤其涉及一种测量元素点的图形化处理系统及方法。

背景技术

在传统的三次元测量过程中，通常采用人工采集测量元素点的方式。这种方式通常会因采集到的测量元素点的信息不够准确，而导致拟合出来的测量元素的精确度不高。此外，这种方式需要人工逐个采集测量元素上的测量元素点，因而效率也会大大降低。当用户采集到工件上的测量元素点后，也无法动态修改测量元素点的参数。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种测量元素点的图形化处理系统及方法，对测量元素点进行重新拟合并重新计算向量，且对测量元素上的测量元素点进行图形化地动态修改及处理。

一种测量元素点的图形化处理系统，运行于计算机中，该系统包括：获取模块，用于获取从待测工件上采集的测量元素点的坐标信息并记录；拟合模块，用于利用所记录的测量元素点的坐标信息进行元素拟合，得到拟合偏差值最小的拟合元素以及该拟合元素的参数；第一计算模块，用于根据所述测量元素点的坐标信息及该拟合元素的参数，计算该拟合元素上各测量元素点的新向量；第一绘制模块，用于根据该拟合元素的参数、测量元素点的坐标及新向量，绘制所述拟合元素及该拟合元素上的测量元素点，并显示所绘制的拟合元素的参数调整窗口；分布模块，用于当参数调整窗口中的测量元素点的个数有更新时，重新分布所述的拟合元素中所包含的测量元素点，并记录为新测量元素点；第二计算模块，用于根据预设的下行深度计算所述新测量元素点下行后的坐标；第二绘制模块，用于删除掉该拟合元素上的测量元素点，并利用所计算的新测量元素点下行后的坐标，在上述绘制出的拟合元素中绘制该下行后的新测量元素点。

一种测量元素点的图形化处理方法，应用于计算机中，该方法包括：获取步骤：获取并记录从待测工件上采集的测量元素点的坐标信息；拟合步骤：利用所记录的测量元素点的坐标信息进行元素拟合，得到拟合偏差值最小的拟合元素以及该拟合元素的参数；第一计算步骤：根据所述测量元素点的坐标信息及该拟合元素的参数，计算该拟合元素上各测量元素点的新向量；第一绘制步骤：根据该拟合元素的参数、测量元素点的坐标及所述新向量绘制所述拟合元素及该拟合元素上的测量元素点，并显示所绘制的拟合元素的参数调整窗口；分布步骤：当参数调整窗口中的测量元素点的个数有更新时，重新分布所述拟合元素所包含的测量元素点，并记为新测量元素点；第二计算步骤：根据预设的下行深度计算所述新测量元素点下行后的坐标；第二绘制步骤：删除掉该拟合元素上的测量元素点，并利用所计算的新测量元素点下行后的坐标，在上述绘制出的拟合元素中绘制该下行后的新测量元素点。

相较于现有技术，本发明所述的测量元素点的图形化处理系统及方法，对测量元素点进行重新拟合得到最适合拟合的测量元素，并重新计算所述测量元素点的向量，提高所拟合的测量元素的精度，且可对测量元素上的测量元素点进行图形化地动态修改及处理，并输出该修改后测量元素的机器程序，避免了人工逐个采集测量元素上的测量元素点，大大提高了在测量元素上提取测量元素点的效率。

附图说明

图1是本发明测量元素点的图形化处理系统较佳实施例的运行环境示意图。

图2是图1中测量元素点的图形化处理系统较佳实施例的功能模块图。

图3是本发明测量元素点的图形化处理方法较佳实施例的流程图。

图4A和图4B是本发明对测量元素点修改后重新分布的新测量元素点的示意图。

图5是本发明参数调整窗口的显示示意图。

主要元件符号说明