[发明专利]一种TFT阵列基板像素点修复制造方法无效

专利信息
申请号: 201210101988.1 申请日: 2012-04-10
公开(公告)号: CN102623401A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 陈龙龙;李喜峰;张建华 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 tft 阵列 像素 修复 制造 方法
【说明书】:

技术领域

       本发明涉及一种平板显示屏制造领域的制造方法,具体的说是一种TFT阵列基板像素点修复的制造方法,采用微机械加工艺方法可以对存在缺陷的TFT阵列基板进行单点修复。

背景技术

TFT英文全称为Thin Film Transistor,意思为薄膜晶体管。

       TFT阵列基板采用如下的工艺制造流程制作:首先在清洗洁净的TFT玻璃基板上溅射底栅金属层,通过光刻工艺将底栅金属层图形化处理,得到底栅电极的图形;接着在图形化后的底栅金属层之上依次淀积绝缘层、有源层及欧姆接触层;接下来图形化处理有源层以及欧姆接触层,形成硅岛结构;再溅射金属源漏电极层,图形化处理后得到TFT有源矩阵的源、漏电极,并做干刻处理将沟道处欧姆接触层刻蚀去除,形成TFT沟道;接着沉积保护层,图形化处理后干刻打孔制作成引线接孔;再沉积一层像素电极层,图形化制作成像素电极结构;最后制作一层平坦化层结构,TFT有源矩阵制作工艺结束。

       TFT阵列基板加工制作完成之后,由于制作工艺条件等各种原因,部分TFT阵列基板之上会出现较多的点缺陷、线缺陷,例如亮点、暗点、暗线等,会使画面显示图像残缺,此种基板往往会处理为废片,造成生产成本的浪费。

       本发明提出一种采用微机械加工方法来修复存在缺陷的TFT阵列基板的方法,首先对TFT阵列基板上TFT缺陷点处位置精确定位,再采用激光切割方式将存在点缺陷像素切割且移除,再将采用微机械加工工艺制作完成的单个TFT点像素填补至此位置并定位精确,再采用电气层自组装方式将各层膜层分别连接起来,完成此TFT点像素与TFT阵列基板电气性能的连接。采用本发明的方法,可以使存在缺陷的样品再利用,大大提高工业生产的良率,降低生产制造成本。

发明内容

本发明的目的是针对己有技术存在的缺陷提供一种TFT阵列基板像素点修复制造方法,该方法将存在缺陷的TFT阵列基板处TFT缺陷点移除,并转移来有良好性能的TFT点像素作为替代,可以将存在缺陷的TFT基板阵列再利用,大大提高工业生产的良率,降低生产制造成本。

为达到上述目的,本发明采用如下技术方案:

一种TFT阵列基板像素点修复制造方法,其特征在于,TFT阵列基板像素点修复分为两个步骤:①首先是转移用TFT点像素制造及准备工艺制备TFT点像素,②其次是对TFT阵列基板TFT缺陷点进行修复。

上述转移用TFT点像素制造及准备工艺的步骤如下:

(1)在洁净的单晶硅晶圆上热生长一层氧化硅层,作为TFT有源矩阵转移的牺牲层;

(2)在氧化硅层上涂布一层抗蚀层,并在其上生长一层栅极金属层;

(3)对栅极金属层作图形化处理,制作出TFT有源矩阵的底栅金属电极图形;

(4)在TFT有源矩阵的底栅金属电极之上生长绝缘层、有源层,并将有源层图形化处理得到硅岛;

(5)溅射TFT有源矩阵的源漏电极层,并作图形化处理,得到源漏金属电极;

(6)生长氮化硅保护层;

(7)图形化处理,将氮化硅刻蚀后将需电接触处的栅电极、源漏电极暴露出来;

(8)生长ITO像素电极层,图形化处理得到像素电极图形;

(9)再次涂布抗蚀层;

(10)利用微机械加工工艺刻蚀掉氧化硅层,将TFT阵列从单晶硅晶圆上剥离下来;

(11)将剥离下来的TFT有源矩阵放置于抗蚀层剥离液中,去除掉上下两层抗蚀层;

(12)利用激光切割等方法,可以将制作好的TFT阵列切割成TFT点像素,供后续转移工艺使用。

上述对TFT阵列基板TFT缺陷点时行修复的工艺步骤如下:

(1)精确定位TFT阵列基板存在缺陷点的位置,并利用激光切割等方法将TFT缺陷点切割下来,并将其转移到TFT阵列基板之外;

(2)将准备的TFT点像素精确转移至原TFT缺陷点位置处并固定;

(3)TFT阵列基板上有多个缺陷点存在时,重复上述(1)、(2)步骤,直至所有缺陷点全部替换;

(4)将此TFT阵列基板置于一定气体环境氛围的腔体中,利用采用电气层自组装方式使转移来的TFT点像素与原TFT阵列基板各层膜层形成电气连接,TFT阵列基板修复完成。

至此,一种TFT阵列基板像素点修复制造方法工艺步骤全部完成。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海大学,未经上海大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210101988.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top