[发明专利]航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种航天电磁继电器的贮存性能测试系统，它包括多个恒温箱(1)，其特征在于：它还包括待测继电器切换电路(2)、接触电阻测试仪(3)、时间参数测试仪(4)、下位机(5)和上位机(6)，所述待测继电器切换电路(2)由多个切换单元(2-1)组成，所述切换单元(2-1)的个数与恒温箱(1)的个数相同，

每个恒温箱(1)内设置一组待测电磁继电器，每个恒温箱(1)内的多个待测电磁继电器由一个切换单元(2-1)轮流控制依次与接触电阻测试仪(3)和时间参数测试仪(4)连接，接触电阻测试仪(3)用于测试与其连接的待测电磁继电器的开关的接触电阻，时间参数测试仪(4)用于测试与其连接的待测电磁继电器的吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间、吸合稳定时间和释放稳定时间；

下位机(5)用于控制每个恒温箱(1)中的温度和湿度，还用于控制每个切换单元(2-1)的切换状态，还用于采集接触电阻测试仪(3)和时间参数测试仪(4)获得的测试数据，还用于将采集获得的测试数据传递给上位机(6)，

上位机(6)用于发送控制信息给下位机(5)，并将接收到的来自下位机(5)的参数进行统计；

所述控制信息包括预设参数，所述参数为每个恒温箱(1)中待测电磁继电器的数量、线圈阻值和贮存时间，恒温箱(1)内的温度和湿度。

2.根据权利要求1所述的航天电磁继电器的贮存性能测试系统，其特征在于：每个切换单元(2-1)包括一个切换单元使能通路、十个继电器切换通路和计数译码芯片，

切换单元使能通路由第一继电器(2-11)、第一三极管(2-12)和两个电阻组成，第一继电器(2-11)的线圈的一端连接控制电源正极VCC，第一继电器(2-11)的线圈的另一端连接第一三极管(2-12)的集电极，第一三极管(2-12)的发射极接控制电源的电源地，第一三极管(2-12)的发射极与基极之间串联两个电阻，切换单元使能通路的使能信号输入端连接在所述两个电阻之间，该使能信号输入端连接下位机(5)的一个切换单元信号输出端，第一继电器(2-11)的开关的一端连接控制电源正极VCC，该第一继电器(2-11)的开关的另一端与所有继电器切换通路的切换开关(2-13)的第一控制信号端连接；

每个继电器切换通路由切换开关(2-13)、第二三极管(2-14)和两个电阻组成，切换开关(2-13)包括六个同时动作的常开开关，分别为第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关和第六开关；

切换开关(2-13)的第二控制信号端连接第二三极管(2-14)的集电极，第二三极管(2-14)的发射极接控制电源的电源地，第二三极管(2-14)发射极与基极之间串联两个电阻，该两个电阻之间连接计数译码芯片的一个控制信号输出端，

所述切换开关(2-13)在控制信号的作用下同时打开或闭合六路开关；

切换开关(2-13)每个常开开关的一端为输出端，所有切换开关(2-13)的第i开关的另一端连接在一起作为待测继电器切换电路(2)的信号输出端Si，i为1、2、3、4、5、6；其中，待测继电器切换电路(2)的信号输出端S1、S2、S3和S4与接触电阻测试仪(3)的四个测试端连接，用于实现对待测电磁继电器的开关的接触电阻四线制测量，待测继电器切换电路(2)的六个信号输出端S1、S2、S3、S4、S5和S6与时间参数测试仪(4)的六个测试端连接，其中待测继电器切换电路(2)的信号输出端S5和S6用于连接待测电磁继电器的控制线圈的两端；

每个切换单元(2-1)的计数译码芯片的清零信号输入端连接下位机(5)的清零信号CR输出端，每个切换单元(2-1)的计数时钟信号输入端连接下位机(5)的切换时钟信号CLK输出端，，每个切换单元(2-1)的计数译码芯片的切换使能信号输入端连接下位机(5)的切换使能信号CLKEN输出端。

3.根据权利要求2所述的航天电磁继电器的贮存性能测试系统，其特征在于：每个继电器切换通路的切换开关(2-13)由三个继电器组成，该三个继电器中的每个继电器带有两个常开触点，该三个继电器的三个线圈并联在一起后，一端作为该继电器切换通路的切换开关(2-13)的第一控制信号端，其另一端作为该继电器切换通路的切换开关(2-13)的第二控制信号端。