[发明专利]航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法，属于电磁继电器性能测试技术领域。

背景技术

航天电磁继电器是国防武器装备系统中不可缺少的关键元器件之一，广泛应用于卫星、导弹、运载火箭等设备中，主要完成信号传递、系统配电、电路隔离及负载切换等功能。现代武器装备具有“长期贮存，一次使用”的特点，因此继电器的贮存可靠性直接影响整个国防武器装备系统和宇航系统的可靠性。

航天电磁继电器的贮存环境复杂，贮存过程中会受环境因素，如温度、湿度、腐蚀、氧化、霉变、大气污染等的影响，其各项性能会发生退化，甚至失效报废。为了评估它贮存的性能，在加速退化过程中研究其特性参数的变化情况是非常必要的，因此对处于加速退化中的航天电磁继电器进行接触电阻和时间参数监测，能够为继电器的可靠性乃至系统的可靠性研究奠定基础。

目前，国内外还没有专门的测试仪器用来测量贮存过程中航天电磁继电器的接触电阻和时间参数，由于贮存试验要求测量时不能对继电器的触点造成破坏，会对触点负载电流有严格限制，国军标65B-99要求触点负载电流不大于10mA，而常用的航天电磁继电器测试仪用于贮存试验会存在以下缺点：

1、贮存试验样品多，引线长，磁场耦合干扰和噪声耦合干扰会影响小信号的检测采集，若要保证测量精度，则触点负载电流比较大，无法满足国军标要求。

2、对航天电磁继电器的接触电阻、吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间和吸合稳定时间、释放稳定时间的测量采用几种不同的仪器进行，不能同时测得；

3、测试步骤比较繁琐，需要连续插拔，而且没有采用在模拟恶劣环境下进行加速退化贮存试验来实时连续地测试并保存所测得的参数。

发明内容

本发明是为了解决现有航天电磁继电器测试仪不能实时检测航天电磁继电器在加速退化过程中性能参数的问题，提供一种航天电磁继电器的贮存性能测试系统及测试方法。

本发明所述航天电磁继电器的贮存性能测试系统，它包括多个恒温箱，它还包括待测继电器切换电路、接触电阻测试仪、时间参数测试仪、下位机和上位机，所述待测继电器切换电路由多个切换单元组成，所述切换单元的个数与恒温箱的个数相同，

每个恒温箱内设置一组待测电磁继电器，每个恒温箱内的多个待测电磁继电器由一个切换单元轮流控制依次与接触电阻测试仪和时间参数测试仪连接，接触电阻测试仪用于测试与其连接的待测电磁继电器的开关的接触电阻，时间参数测试仪用于测试与其连接的待测电磁继电器的吸合时间、释放时间、吸合弹跳时间、释放弹跳时间、超程时间、吸合稳定时间和释放稳定时间；

下位机用于控制每个恒温箱中的温度和湿度，还用于控制每个切换单元的切换状态，还用于采集接触电阻测试仪和时间参数测试仪获得的测试数据，还用于将采集获得的测试数据传递给上位机，

上位机用于发送控制信息给下位机，并将接收到的来自下位机的参数进行统计；

所述控制信息包括预设参数，所述参数为每个恒温箱中待测电磁继电器的数量、线圈阻值和贮存时间，恒温箱内的温度和湿度。

每个切换单元包括一个切换单元使能通路、十个继电器切换通路和计数译码芯片，

切换单元使能通路由第一继电器、第一三极管和两个电阻组成，第一继电器的线圈的一端连接控制电源正极VCC，第一继电器的线圈的另一端连接第一三极管的集电极，第一三极管的发射极接控制电源的电源地，第一三极管的发射极与基极之间串联两个电阻，切换单元使能通路的使能信号输入端连接在所述两个电阻之间，该使能信号输入端连接下位机的一个切换单元信号输出端，第一继电器的开关的一端连接控制电源正极VCC，该第一继电器的开关的另一端与所有继电器切换通路的切换开关的第一控制信号端连接；

每个继电器切换通路由切换开关、第二三极管和两个电阻组成，切换开关包括六个同时动作的常开开关，分别为第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关和第六开关；

切换开关的第二控制信号端连接第二三极管的集电极，第二三极管的发射极接控制电源的电源地，第二三极管发射极与基极之间串联两个电阻，该两个电阻之间连接计数译码芯片的一个控制信号输出端，

所述切换开关在控制信号的作用下同时打开或闭合六路开关；