[发明专利]一种腐蚀制备选择性发射极晶体硅太阳能电池的方法无效

专利信息
申请号: 201210121103.4 申请日: 2012-04-23
公开(公告)号: CN103378213A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 黄惠东;陈永虹;赖江海;肖海东;林禹 申请(专利权)人: 南安市三晶阳光电力有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 张松亭
地址: 362000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 腐蚀 制备 选择性 发射极 晶体 太阳能电池 方法
【权利要求书】:

1.一种腐蚀制备选择性发射极晶体硅太阳能电池的方法,使电池受光面的电极区域形成重掺杂,非电极区域形成轻掺杂,其特征在于:通过采用扩散工艺形成磷掺杂的电池PN结,对电极区域丝网印刷掩膜,通过减薄非掩模区域,使该区域的扩散掺杂浓度低于掩模区域,然后去除掩模区域的掩膜。

2.如权利要求1所述的一种腐蚀制备选择性发射极晶体硅太阳能电池的方法,包括如下步骤:

a)硅片表面织构处理;

b)电池受光面进行扩散形成PN结;

c)电池受光面第一次丝网印刷,将保护浆料覆盖在硅片受光表面需要制作电极的区域形成掩膜区;

d)丝网印刷后的硅片进行减薄,非掩模区域形成高方阻区域,而掩模区域受保护、方阻基本不变;

e)去除减薄后硅片掩模区域的浆料;

f)按常规太阳能电池生产工艺继续生产,包括刻蚀、清洗、镀减反膜、丝网印刷、烧结。

3.权利要求2所述的一种腐蚀制备选择性发射极晶体硅太阳能电池的方法,其特征在于:

步骤c)所用的掩膜浆料,成分为无机物、有机物或无机有机混合物。

4.如权利要求2所述的一种腐蚀制备选择性发射极晶体硅太阳能电池的方法,其特征在于:步骤b)扩散工艺形成的方块电阻在20-60Ω,包括双面或单面扩散。

5.如权利要求2所述的一种腐蚀制备选择性发射极晶体硅太阳能电池的方法,其特征在于:步骤d)减薄后的非掩膜区域的方块电阻为70-300Ω。

6.如权利要求2所述的一种腐蚀制备选择性发射极晶体硅太阳能电池的方法,其特征在于:步骤d)减薄的实现方式包括化学溶液腐蚀、反应离子刻蚀等物理或化学方法。

7.如权利要求2所述的一种腐蚀法制备选择性发射极晶体硅太阳能电池的方法,其特征在于:步骤e)所用的掩膜去除方法包括纯水清洗、化学溶液清洗、等离子刻蚀或高温烧蚀等。

8.如权利要求2所述的一种腐蚀制备选择性发射极晶体硅太阳能电池的方法,其特征在于:步骤f)电池受光面第二次丝网印刷制备金属化电极时,使金属化电极与步骤b)第一次丝网印刷掩膜印刷图形重叠。

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