[发明专利]液晶屏检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201210125124.3 申请日: 2012-04-25
公开(公告)号: CN102681224A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 王辉;秦锋;李小和;林炳仟 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 液晶屏 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种液晶屏检测装置,其特征在于,所述检测装置包括:

设置在整张母板玻璃上的至少一组信号端口,每组信号端口负责一列上的单元液晶屏;其中,每个单元液晶屏包括栅极信号端、公共电压信号端以及R、G、B电压信号端,通过控制所述至少一组信号端口的电压驱动每个单元液晶屏的各个信号端来同时点亮整张母板玻璃上的所有单元液晶屏。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,在所述检测装置的一个侧边,彩膜基板的玻璃基板面积小于TFT阵列基板的玻璃基板,TFT阵列基板的信号线在该边暴露出连接所述至少一组信号端口的信号输入端。

3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,在每个单元液晶屏中,每行的栅线全部连接在一起,共同形成所述栅极信号端。

4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,在每个单元液晶屏中,数据线中的R、G、B亚像素走线分开,全部R亚像素走线连接在一起、全部G亚像素走线连接在一起、全部B亚像素走线连接在一起,分别形成所述R、G、B电压信号端。

5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,所述R亚像素走线通过TFT阵列基板中的第一金属层实现;所述G亚像素走线和所述B亚像素走线的信号输入端形成于TFT阵列基板中的第一金属层中,通过TFT阵列基板中的第二金属层实现连接。

6.根据权利要求5所述的检测装置,其特征在于,所述G亚像素走线和所述B亚像素走线中,第一金属层与第二金属层之间通过过孔导通。

7.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,各单元液晶屏的检测用信号线按照离所述信号输入端的距离由近到远的比例依次加宽,整张母板玻璃上所有单元液晶屏的检测用信号线的电阻基本相等,单元液晶屏之间的电压分布均匀。

8.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,每个单元液晶屏还包括W电压信号端或Y电压信号端。

9.一种液晶屏检测方法,其特征在于,所述方法包括步骤:

在对母板玻璃进行切割之前进行点屏检测;

通过控制设置在整张母板玻璃上的至少一组信号端口的电压驱动每个单元液晶屏;

同时点亮整张母板玻璃上的所有单元液晶屏。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,同时点亮时,所有单元液晶屏的公共信号由一个公共信号源输入,所有单元液晶屏的栅极信号由一个栅信号源输入,所有单元液晶屏的R亚像素信号由一个R像素源输入,所有单元液晶屏的G亚像素信号由一个G像素源输入,所有单元液晶屏的B亚像素信号由一个B像素源输入。

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