[发明专利]热敏打印头修阻方法及装置有效

专利信息
申请号: 201210135369.4 申请日: 2012-05-04
公开(公告)号: CN103381711A 公开(公告)日: 2013-11-06
发明(设计)人: 村田幸男;刘庆军;张庆祝 申请(专利权)人: 山东华菱电子有限公司
主分类号: B41J2/35 分类号: B41J2/35
代理公司: 威海科星专利事务所 37202 代理人: 于涛
地址: 264200 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 热敏 打印头 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种热敏打印头的修阻方法,包括对待调整的N≥2个发热电阻体进行阻值采集后,根据所采集数据确定目标阻值,然后对阻值大于目标阻值的发热电阻体进行M>0次调整,直至N个发热电阻体阻值均小于等于目标阻值,其特征在于发热电阻体阻值的调整环节为连续对阻值高于目标阻值的发热电阻体分别进行第m次调整后,再连续对阻值高于目标阻值的发热电阻体分别进行第m+1次调整,直至N个待测发热电阻体阻值均小于等于目标阻值,其中m∈M,M,N均为正整数。

2.根据权利要求1所述的一种热敏打印头的修阻方法,其特征在于所述N≥2个发热电阻体中任意一个发热电阻体阻值的第m次调整,均发生在该发热电阻体的上次调整、冷却完毕之后。

3.一种应用如权利要求1所述修阻方法的热敏打印头修阻装置,其特征在于包括

用于采集N个发热电阻体的阻值的阻值采集模块,

用于根据阻值采集模块采集的数据确定目标阻值的目标阻值确定模块,

用于将采集的阻值与目标阻值进行比对以确定调整方案的阻值比对模块以及调整方案确定模块,

用于对发热电阻体进行阻值调整的调整模块,

用于记忆调整后的发热电阻体的冷却时间的冷却时间记忆模块。

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