[发明专利]FPGA基带平台射频数据处理装置、验证系统及方法有效
申请号: | 201210136246.2 | 申请日: | 2012-04-26 |
公开(公告)号: | CN102694756A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 刘昊;黄良明;葛维;桂竟晶 | 申请(专利权)人: | 重庆重邮信科通信技术有限公司 |
主分类号: | H04L25/02 | 分类号: | H04L25/02;G06K17/00 |
代理公司: | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人: | 谢殿武 |
地址: | 400065 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | fpga 基带 平台 射频 数据处理 装置 验证 系统 方法 | ||
1.一种现场可编程门阵列FPGA基带平台射频数据处理装置,其特征在于,包括:
射频数据发生模块,包括基带系统和射频系统,用于执行通信业务测试例,产生射频数据;
数据采集模块,从所述射频数据发生模块采集数据,将采集的数据存储到数据存储模块;从所述数据存储模块读取数据;
数据桥接模块,对发送给FPGA基带平台的射频数据进行时序匹配,按照FPGA基带平台的时序要求将射频数据发送到FPGA基带平台;
数据存储模块,存储所述数据采集模块采集的数据;
控制模块,接收FPGA基带平台发送的启动信号和控制信息,启动数据采集模块从所述数据存储模块读取数据;
其中,所述时序匹配为将数据时序匹配为FPGA基带平台接口时序。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述控制模块包括:
数据处理启动单元,接收FPGA基带平台发送的FPGA基带平台控制信息和启动信号,根据启动信号启动数据采集模块从所述数据存储模块读取数据;
控制信息解析单元,解析FPGA基带平台发送的FPGA基带平台控制信息,获取FPGA基带平台控制参数。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述装置包括:
射频数据激励模块,根据FPGA基带平台控制参数对所述数据采集模块从所述数据存储系统中读取的射频数据进行激励处理;
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述射频数据激励模块的激励处理包括:
自动增益控制和/或自动频率控制和/或直流偏置调整和/或I Q不平衡调整;
所述FPGA平台控制参数包括自动增益控制值和/或自动频率控制值和/或直流偏置调整值和/或IQ不平衡调整值。
5.根据权利要求2所述的装置,其特征在于:
所述数据采集模块采集的数据包括,所述射频系统发送的IQ数据和基带系统发送的基带系统控制信息;所述数据采集模块从所述数据存储模块读取的数据包括,射频数据及该射频数据对应的基带系统控制信息。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述控制模块包括:
控制参数保存单元,保存数据采集模块读取的IQ数据对应的基带系统控制信息中的基带系统控制参数;
控制参数对比单元,将FPGA基带平台控制参数与该基带系统控制参数进行比较,验证FPGA平台特性参数校准处理正确性。
7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置包括:
射频数据激励模块,在所述控制参数对比单元判断FPGA基带平台控制参数与该基带系统控制参数小于预设的门限时,根据FPGA基带平台控制参数对所述数据采集模块从所述数据存储系统中读取的射频数据进行激励处理;
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述射频数据激励模块的激励处理包括:
自动增益控制和/或自动频率控制和/或直流偏置调整和/或I Q不平衡调整;
所述FPGA平台控制参数包括自动增益控制值和/或自动频率控制值和/或直流偏置调整值和/或IQ不平衡调整值。
9.一种现场可编程门阵列FPGA基带平台射频数据处理验证系统,包括FPGA基带平台,其特征在于,包括:
权利要求1~8中任意一项所述的FPGA基带平台射频数据处理装置。
10.一种现场可编程门阵列FPGA基带平台射频数据处理验证方法,其特征在于,包括:
射频数据发生模块执行通信业务测试例,产生射频数据;
数据采集模块从射频数据发生模块采集数据并保存到数据存储模块;
FPGA基带平台执行相同通信业务测试例,发送启动信号到控制模块;
控制模块控制数据采集模块从数据存储模块读取数据,
数据桥接模块对发送给FPGA基带平台的射频数据进行时序匹配,按照FPGA基带平台的时序要求发送射频数据到FPGA基带平台;
FPGA基带平台处理接收到的射频数据;
根据FPGA基带平台对射频数据的处理情况验证其对应的ASIC设计。
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