[发明专利]投影装置及投影方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请基于2011年3月28日提出的日本专利申请第2011-070007号主张优先权的利益，其说明书、权利要求书、摘要在此全部被引入本说明书。

技术领域

本发明涉及适于例如DLP(Digital Light Processing：数字光处理)(注册商标)方式的投影机装置等投影装置、投影方法以及程序。

背景技术

以往以来，如下投影机被进行各种设计并被商品化，该投影机通过使来自光源的白色光透过在周面配置有多个颜色的滤色器的色轮(colorwheel)而作为分时的着色光来射出，并使用该光将各颜色用的图像进行投影，从而按场序投影彩色图像。

作为这种投影机的光源元件，考虑代替以往大量使用的高压水银灯等放电灯，而使用在耗电量、尺寸、发热量等方面优异的LED(发光二极管)或LD(激光二极管)等半导体发光元件。

在将这些半导体发光元件用作投影机用的光源时，半导体发光元件基本上以单一的波长发光，因此需要组合使用发光波长不同的多个种类的半导体发光元件。

而且，在使用发光波长不同的多个种类的半导体发光元件的情况下，需要在各个种类的半导体发光元件间取得亮度的平衡。为此，可以考虑如日本特开2010-152326号公报记载的发明那样，将色序式的光源光的色度准确地维持在所设定的内容的技术。

在上述专利文献记载的技术中，利用照度传感器测定各颜色的明亮度，基于其测定结果调节各颜色的明亮度，以使累计色度成为目标色度。

但是，半导体光源元件的发光波长根据温度而变化，另一方面，照度传感器的灵敏度根据所入射的光波长而变化。因而，若作为光源的半导体发光元件的温度变化，则即使其输出为相同级别，照度传感器侧的检测值也会发生变化。其结果，所投影的图像的颜色的平衡被破坏。

发明内容

本发明的投影装置，具备：

发光波长不同的多种半导体发光元件；

输入部，输入图像信号；

光学像形成部，利用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光，形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像；

投影部，向投影对象投影由所述光学像形成部形成的光学像；

温度检测部，针对所述半导体发光元件，按种类检测发光时的温度；

测定部，针对所述半导体发光元件，按种类测定发光时的光的强度；以及

发光控制部，利用所述温度检测部的检测结果，对所述测定部的测定结果进行修正，并基于修正后的所述测定结果，控制每个所述半导体发光元件的发光强度。

另外，本发明的投影方法，其是如下装置上的投影方法，该装置具备：

发光波长不同的多种半导体发光元件；输入部，输入图像信号；光学像形成部，利用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光，形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像；以及投影部，向投影对象投影由所述光学像形成部形成的光学像，上述投影方法包括：

温度检测工序，针对所述半导体发光元件，按种类检测发光时的温度；

测定工序，针对所述半导体发光元件，按种类测定发光时的光的强度；以及

发光控制工序，利用所述温度检测工序的检测结果，对所述测定工序中的测定结果进行修正，并基于修正后的所述测定结果，控制每个所述半导体发光元件的发光强度。

另外，本发明的程序，其是如下装置所内置的计算机执行的程序，该装置具备：

发光波长不同的多种半导体发光元件；输入部，输入图像信号；光学像形成部，利用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光，形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像；以及投影部，向投影对象投影由所述光学像形成部形成的光学像，

上述程序使所述计算机作为下述机构发挥功能，即：

温度检测部，针对所述半导体发光元件，按种类检测发光时的温度；

测定部，针对所述半导体发光元件，按种类测定发光时的光的强度；以及

发光控制部，利用所述温度检测部的检测结果，对所述测定部的测定结果进行修正，并基于修正后的所述测定结果，控制每个所述半导体发光元件的发光强度。

本发明的优点将在随后的说明中阐述，并且本发明的部分优点通过说明变得明显，或通过实施本发明得知。本发明的优点能够通过在后面详细指出的装置和组合来实现。

附图说明

所附的附图结合并包含于本发明的一部分，说明本发明的实施方式，并与上面给出的总的说明以及下面给出的实施方式的说明一起，用于解释本发明的原理。