[发明专利]测量装置及其使用方法

权利要求书

1.一种测量装置，其特征在于，包括平台、安装在所述平台上的分度头及可沿着所述平台滑动的工具显微镜，所述测量装置还包括高度仪、测微表及法兰盘，其中，

所述高度仪垂直地固定安装在所述工具显微镜上；

所述测微表可上下滑动地安装在所述高度仪上；

所述分度头包括可同时驱动旋转的主轴及分度盘，其中，所述分度盘轴向地放置于所述平台上，所述主轴的第一端垂直地固定连接所述分度盘；

所述主轴的第二端垂直地固定设置所述法兰盘，待测工件固定安装在所述法兰盘上；

所述测微表的指针可操作触碰所述待测工件。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括调整附件，所述调整附件放置在所述法兰盘上，所述待测工件固定在所述调整附件上。

3.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括滑动安装在所述高度仪上的加长杆，所述高度仪通过所述加长杆连接所述测微表。

4.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述分度头还包括外壳体及设置于所述外壳体上的数显屏，所述主轴及所述分度盘容纳于所述外壳体内，且所述主轴的第二端延伸出所述外壳体。

5.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述调整附件包括千斤顶及第二调心板，其中，

所述千斤顶放置在所述法兰盘上；

所述第二调心板放置在所述千斤顶上；

所述待测工件固定安装在所述第二调心板上。

6.根据权利要求5所述的测量装置，其特征在于，所述调整附件还包括第一调心板，所述第一调心板放置于所述法兰盘与所述千斤顶之间。

7.一种测量装置的使用方法，用于测量待测工件的跳动，其特征在于，使用权利要求1至6中任意一项所述的测量装置实现对所述待测工件的跳动测量，所述使用方法依次包括如下步骤：

第一步，将待测工件固定安装在所述测量装置的调整附件上；

第二步，通过所述测量装置的工具显微镜和高度仪调整所述待测工件的X轴、Y轴、Z轴坐标，使得所述测量装置的测微表的指针与所述待测工件的基准表面碰触；

第三步，转动所述测量装置的主轴，并同时通过调整所述调整附件找正所述待测工件的基准圆或基准面；

第四步，通过同时移动所述工具显微镜和所述高度仪，使得所述测微表的指针与所述待测工件的外周面或端面碰触，同时，所述测微表归零；

第五步，驱动所述主轴旋转一周，所述主轴旋转一周后所述测微表测得的最大值与最小值之差为所述待测工件的圆跳动或端面跳动。

8.一种测量装置的使用方法，用于测量待测工件上两个元素之间的角度，其特征在于，使用权利要求1至6中任意一项所述的测量装置实现对所述待测工件上两个元素之间角度的测量，所述使用方法依次包括如下步骤：

第一步，将待测工件固定安装在所述测量装置的调整附件上；

第二步，通过所述测量装置的工具显微镜和高度仪调整所述待测工件的X轴、Y轴、Z轴坐标，使得所述测量装置的测微表的指针与所述待测工件的基准表面碰触；

第三步，转动所述测量装置的主轴，并同时通过调整所述调整附件找正所述待测工件的基准圆或基准面；

第四步，通过同时移动所述工具显微镜和所述高度仪，使得所述测微表的指针与所述待测工件的外周面或端面碰触；

第五步，驱动所述主轴旋转，使得所述测微表的指针触测所述待测工件上的第一被测元素，并读取所述第一被测元素对应在所述分度盘的第一角度值，并记下所述指针的位置；

第六步，通过移动所述工具显微镜将所述测微表移开；

第七步，再次驱动所述主轴旋转，将所述指针回复到原来的位置，并使得所述指针触测所述待测工件上的第二被测元素，并读取所述第二被测元素对应在所述分度盘的第二角度值；

第八步，计算所述第一角度值与所述第二角度值之间的差。

9.一种测量装置的使用方法，用于测量待测工件上两个位置之间的长度，其特征在于，使用权利要求1至6中任意一项所述的测量装置实现对所述待测工件上两个位置之间长度的测量，所述使用方法依次包括如下步骤：

第一步，将待测工件固定安装在所述测量装置的调整附件上；

第二步，通过所述调整附件对所述待测工件进行调整；

第三步，通过移动所述工具显微镜使得所述测微表的指针触碰所述待测工件上的第一位置，并通过所述工具显微镜及所述高度仪记下所述第一位置的第一坐标值；

第四步，通过移动所述工具显微镜使得所述测微表的指针触碰所述待测工件上的第二位置，并通过所述工具显微镜及所述高度仪记下所述第二位置的第二坐标值；

第五步，根据所述第一坐标值及所述第二坐标值计算所述第一位置与所述第二位置的长度值。