[发明专利]测量装置及其使用方法有效
申请号: | 201210177091.7 | 申请日: | 2012-05-31 |
公开(公告)号: | CN102679927A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 韩晓明 | 申请(专利权)人: | 中国航空动力机械研究所 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B21/22;G01B21/02 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明 |
地址: | 412002*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 装置 及其 使用方法 | ||
技术领域
本发明涉及机械零件测量仪器领域,特别地,涉及一种测量装置。此外,本发明还涉及上述测量装置的使用方法。
背景技术
在机械零件制造过程的质量控制中,我们往往需要对零件的圆跳动和端面跳动进行检测。目前测量圆跳动和端面跳动的测量工具主要采用圆柱度仪、转台、三坐标等设备进行测量。
但采用圆柱度仪价格较高,且其测头的形状、数量有限,有时会出现某些测量位置触测不到的情况。转台由于只有一个单一的旋转轴,没有辅助的直角坐标轴,操作很不方便,无法完成对零件某些指定位置的测量。三坐标一般不配备转台,测量时触测的点不连续,测点的间隔较大,导致测量结果不能真实反映零件的实际情况。
从以上可以看出,目前现有相关技术的圆跳动和端面跳动测量仪器存在测量成本过高、操作复杂、测量结果不准确以及不连续的问题。
发明内容
本发明目的在于提供一种测量装置及其使用方法,以解决相关技术的圆跳动和端面跳动测量仪器存在测量成本过高、操作复杂、测量结果不准确以及不连续的技术问题。
为实现上述目的,根据本发明的一个方面,提供了一种测量装置,其包括平台、安装在平台上的分度头及可沿着平台滑动的工具显微镜,测量装置还包括高度仪、测微表及法兰盘,其中,高度仪垂直地固定安装在工具显微镜上;测微表可上下滑动地安装在高度仪上;分度头包括可同时驱动旋转的主轴及分度盘,其中,分度盘轴向地放置于平台上,主轴的第一端垂直地固定连接分度盘;主轴的第二端垂直地固定设置法兰盘,待测工件固定安装在法兰盘上;测微表的指针可操作触碰待测工件。
进一步地,测量装置还包括调整附件,调整附件放置在法兰盘上,待测工件固定在调整附件上。
进一步地,测量装置还包括滑动安装在高度仪上的加长杆,高度仪通过加长杆连接测微表。
进一步地,分度头还包括外壳体及设置于外壳体上的数显屏,主轴及分度盘容纳于外壳体内,且主轴的第二端延伸出外壳体。
进一步地,调整附件包括千斤顶及第二调心板,其中,千斤顶放置在法兰盘上;第二调心板放置在千斤顶上;待测工件固定安装在第二调心板上。
进一步地,调整附件还包括第一调心板,第一调心板放置于法兰盘与千斤顶之间。
根据本发明的另一方面,还提供了一种测量装置的使用方法,用于测量待测工件的跳动,使用上述测量装置实现对待测工件的跳动测量方法依次包括如下步骤:第一步,将待测工件固定安装在测量装置的调整附件上;第二步,通过测量装置的工具显微镜和高度仪调整待测工件的X轴,Y轴,Z轴坐标,使得测量装置的测微表的指针与待测工件的基准表面碰触;第三步,转动测量装置的主轴,并同时通过调整调整附件找正待测工件的基准圆或基准面;第四步,通过同时移动工具显微镜和高度仪,使得测微表的指针与待测工件的外周面或端面碰触,同时,测微表归零;第五步,驱动主轴旋转一周,主轴旋转一周后测微表测得的最大值与最小值之差为待测工件的圆跳动或端面跳动。
根据本发明的另一方面,还提供了一种测量装置的使用方法,用于测量待测工件上两个元素之间的角度,使用上述测量装置实现对待测工件上两个元素之间角度的测量方法依次包括如下步骤:第一步,将待测工件固定安装在测量装置的调整附件上;第二步,通过测量装置的工具显微镜和高度仪调整待测工件的X轴、Y轴、Z轴坐标,使得测量装置的测微表的指针与待测工件的基准表面碰触;第三步,转动测量装置的主轴,并同时通过调整调整附件找正待测工件的基准圆或基准面;第四步,通过同时移动工具显微镜和高度仪,使得测微表的指针与待测工件的外周面或端面碰触,同时,测微表归零;第五步,驱动主轴旋转,使得测微表的指针触测待测工件上的第一被测元素,并读取第一被测元素对应在分度盘的第一角度值,并记下指针的位置;第六步,通过移动工具显微镜将测微表移开;第七步,再次驱动主轴旋转,将指针回复到原来的位置,使得指针触测待测工件上的第二被测元素,并读取第二被测元素对应在分度盘的第二角度值;第八步,计算第一角度值与第二角度值之间的差。
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