[发明专利]一种芯片数字接口的测试方法及系统有效
申请号: | 201210180019.X | 申请日: | 2012-06-01 |
公开(公告)号: | CN103454579A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 葛保建;黄杰成;胡胜发 | 申请(专利权)人: | 安凯(广州)微电子技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/3193 | 分类号: | G01R31/3193 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 510663 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 数字 接口 测试 方法 系统 | ||
1.一种芯片数字接口的测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
接收测试指令,并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号;
接收所述第一数字信号经所述数字接口传输后输出的第二数字信号,并将接收到的所述第二数字信号与预存的所述第一数字信号进行比对,输出比对结果;
根据输出的所述比对结果,发出表征数字接口正常/异常的提示信号。
2.如权利要求1所述的芯片数字接口的测试方法,其特征在于,所述接收测试指令,并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号的步骤又包括以下步骤:
接收测试指令,并根据所述测试指令生成相应测试用例的第一数字信号;
发送生成的所述第一数字信号。
3.如权利要求1所述的芯片数字接口的测试方法,其特征在于,所述接收测试指令,并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号的步骤又包括以下步骤:
接收测试指令,并调用预存的、所述测试指令相应测试用例的第一数字信号;
发送调用的所述第一数字信号。
4.如权利要求1所述的芯片数字接口的测试方法,其特征在于,所述根据输出的所述比对结果,发出表征数字接口正常/异常的提示信号的步骤具体为:若所述第二数字信号与预存的所述第一数字信号相同,则发出表征所述数字接口正常的提示信号,否则发出表征所述数字接口异常的提示信号。
5.如权利要求1至4任一项所述的芯片数字接口的测试方法,其特征在于,所述被测芯片是多媒体处理芯片,所述数字接口是IIS接口。
6.一种芯片数字接口的测试系统,其特征在于,所述系统包括:
第一存储模块,用于预存第一数字信号;
数字信号发送模块,用于接收测试指令,并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号;
数字信号接收模块,用于接收所述数字信号发送模块发送的所述第一数字信号经所述数字接口传输后输出的第二数字信号;
比对模块,用于将所述数字信号接收模块接收到的所述第二数字信号与所述第一存储模块预存的所述第一数字信号进行比对,输出比对结果;
提示模块,用于根据所述比对模块输出的所述比对结果,发出表征所述数字接口正常/异常的提示信号。
7.如权利要求6所述的芯片数字接口的测试系统,其特征在于,所述数字信号发送模块又包括:
生成模块,用于接收测试指令,并根据所述测试指令生成相应测试用例的第一数字信号;
第一发送模块,用于发送所述生成模块生成的所述第一数字信号。
8.如权利要求6所述的芯片数字接口的测试系统,其特征在于,所述数字信号发送模块又包括:
第二存储模块,用于预存测试用例及其相应的第一数字信号;
调用模块,用于接收测试指令,调用所述第二存储模块预存的、所述测试指令相应测试用例的所述第一数字信号;
第二发送模块,用于发送所述调用模块调用的所述第一数字信号。
9.如权利要求6所述的芯片数字接口的测试系统,其特征在于,所述数字信号发送模块置于一CPLD芯片中,所述数字信号接收模块、比对模块、提示模块、第一存储模块置于所述被测芯片中;
所述CPLD芯片与所述被测芯片之间通过IIS接口和GPIO接口连接,所述测试指令是由所述被测芯片通过所述GPIO接口发送给所述数字信号发送模块的。
10.如权利要求6至9任一项所述的芯片数字接口的测试系统,其特征在于,所述被测芯片是多媒体处理芯片,所述数字接口是IIS接口。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安凯(广州)微电子技术有限公司,未经安凯(广州)微电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210180019.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:群桩拖带叠加沉降量评估处理方法
- 下一篇:半导体芯片测试板