[发明专利]一种芯片数字接口的测试方法及系统有效
申请号: | 201210180019.X | 申请日: | 2012-06-01 |
公开(公告)号: | CN103454579A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 葛保建;黄杰成;胡胜发 | 申请(专利权)人: | 安凯(广州)微电子技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/3193 | 分类号: | G01R31/3193 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 510663 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 数字 接口 测试 方法 系统 | ||
技术领域
本发明属于接口测试技术领域,尤其涉及一种芯片数字接口的测试方法及系统。
背景技术
为了保证芯片功能,需要对芯片进行控制台测试,即在一个接近实际使用环境的平台上,对芯片的基本功能进行模拟测试。
采用现有技术提供的芯片数字接口的测试方法在对某些芯片的数字接口进行控制台测试时,需要将一与数字接口搭配的外部模拟信号采集设备与数字接口连接,该外部模拟信号采集设备采集模拟信号并将该模拟信号转换成数字信号后,通过数字接口发送至芯片,由芯片根据该数字信号识别数字结构正常或异常。
举例来说,当对多媒体处理芯片上的IIS接口进行控制台测试时,需要将一带有IIS接口的预处理芯片与多媒体处理芯片上的IIS接口连接。在测试开始后,该预处理芯片采集麦克风等模拟音频输入设备接收到的模拟音频信号,之后将采集到的模拟音频信号进行模/数转换及解码处理后,通过多媒体处理芯片上的IIS接口发送给多媒体处理芯片;多媒体处理芯片根据接收到预处理芯片发送的数字音频信号,识别多媒体处理芯片上的IIS接口正常或异常。
然而,由于芯片接收到的数字信号是外部模拟信号采集设备模/数转换后的数字信号,而模/数转换存在一定的转换精度,导致采用现有技术提供的芯片数字接口的测试方法无法精确识别芯片上数字接口的数据正确性,测试精度低。
在本背景技术本部分所公开的上述信息仅仅用于增加对本发明背景技术的理解,因此其可能包括不构成对该国的本领域普通技术人员已知的现有技术。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种芯片数字接口的测试方法,旨在解决现有技术提供的芯片数字接口的测试方法中,芯片接收到的数字信号是外部模拟信号采集设备模/数转换后的数字信号,导致无法精确识别芯片上数字接口的数据正确性,测试精度低的问题。
本发明实施例是这样实现的,一种芯片数字接口的测试方法,所述方法包括以下步骤:
接收测试指令,并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号;
接收所述第一数字信号经所述数字接口传输后输出的第二数字信号,并将接收到的所述第二数字信号与预存的所述第一数字信号进行比对,输出比对结果;
根据输出的所述比对结果,发出表征数字接口正常/异常的提示信号。
本发明实施例的另一目的在于提供一种芯片数字接口的测试系统,所述系统包括:
第一存储模块,用于预存第一数字信号;
数字信号发送模块,用于接收测试指令,并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号;
数字信号接收模块,用于接收所述数字信号发送模块发送的所述第一数字信号经所述数字接口传输后输出的第二数字信号;
比对模块,用于将所述数字信号接收模块接收到的所述第二数字信号与所述第一存储模块预存的所述第一数字信号进行比对,输出比对结果;
提示模块,用于根据所述比对模块输出的所述比对结果,发出表征所述数字接口正常/异常的提示信号。
本发明实施例提供的芯片数字接口的测试方法及系统是根据测试指令发送第一数字信号给数字接口,之后根据经数字接口输出的第二数字信号与预存的第一数字信号相同与否,提示数字接口正常或异常。由于预存了测试过程中发送给数字接口的第一数字信号,并在测试开始后,直接向数字接口发送第一数字信号,通过第二数字信号与预存第一数字信号的比较,可以准确识别芯片上数字接口的数据正确性,从而避免了模/数转换带来的数据不确定因素,同时提高了测试的自动化程度和测试的可重复性、灵活性。
附图说明
图1是本发明实施例提供的芯片数字接口的测试方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的芯片数字接口的测试系统的结构图;
图3是图2中数字信号发送模块的一种结构图;
图4是图2中数字信号发送模块的另一种结构图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
针对现有技术存在的问题,本发明实施例提供的芯片数字接口的测试方法是根据测试指令发送第一数字信号给数字接口,之后根据经数字接口输出的第二数字信号与预存的第一数字信号相同与否,提示数字接口正常或异常。
图1示出了本发明实施例提供的芯片数字接口的测试方法的流程。
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