[发明专利]带缺陷的测试构件用于分析工程构件的方法、系统和装置

权利要求书

1.一种用于分析工程构件(60,100)的方法，包括：

分析所述工程构件(60,100)，以获得产出轮廓(40)；

制造具有已知缺陷的测试构件(70,300)，所述已知缺陷是被故意地包括在所述测试构件(70,300)中的瑕疵；

分析所述测试构件(70,300)，以获得所述缺陷的测试轮廓(40)；以及

将所述产出轮廓(40)与所述测试轮廓(40)比较，以确定所述工程构件(60,100)是否具有与所述已知缺陷对应的缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

在所述制造之前：

分析产出工程构件(60,100)，以获得产出构件缺陷；以及

以所述已知缺陷与所述产出构件缺陷匹配的方式设计所述测试构件(70,300)。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

将结构测试应用于所述测试构件(70,300)，以实现所述测试构件(70,300)的失效；以及

基于所述结构测试估计所述缺陷对所述工程构件(60,100)的剩余寿命的影响。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述制造包括附加制造过程的使用。

5.一种用于分析工程构件(60,100)的系统，包括：

测试构件(70,300)，其被制造成具有已知缺陷，所述已知缺陷是被故意地包括在所述测试构件(70,300)中的瑕疵；

分析器，其分析所述测试构件(70,300)以获得所述缺陷的测试轮廓(40)，并分析所述工程构件(60,100)以获得产出轮廓(40)；以及

比较器，其将所述产出轮廓(40)与所述测试轮廓(40)比较，以确定所述工程构件(60,100)是否具有与所述已知缺陷对应的缺陷。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，还包括：

结构测试器，其将结构测试应用于所述测试构件(70,300)，以实现所述测试构件(70,300)的失效；以及

估计器，其基于所述结构测试估计所述缺陷对所述工程构件(60,100)的剩余寿命的影响。

7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，使用附加的制造过程制造所述测试构件(70,300)。

8.一种用于分析工程构件(60,100)的存储在计算机可读存储介质上的程序产品，所述程序产品在被计算机执行时执行方法，包括：

分析所述工程构件(60,100)，以获得产出轮廓(40)；

指导具有已知缺陷的测试构件(70,300)的制造，所述已知缺陷是被故意地包括在所述测试构件(70,300)中的瑕疵；

分析所述测试构件(70,300)，以获得所述缺陷的测试轮廓(40)；以及

将所述产出轮廓(40)与所述测试轮廓(40)比较，以确定所述工程构件(60,100)是否具有与所述已知缺陷对应的缺陷。

9.根据权利要求8所述的程序产品，其特征在于，所述方法还包括：

将结构测试应用于所述测试构件(70,300)，以实现所述测试构件(70,300)的失效；以及

基于所述结构测试估计所述缺陷对所述工程构件(60,100)的剩余寿命的影响。

10.根据权利要求8所述的程序产品，其特征在于，制造包括附加的制造过程的使用。