[发明专利]空间结构的干涉检查方法

权利要求书

1.一种空间结构的干涉检查方法，其特征在于，包括：

取得一电路基板，其中该电路基板已设定有一第一限制高度，且该电路基板中部分的多个坐标区域已分别设定多个第二限制高度，其中该些第二限制高度小于等于该第一限制高度；

依据该些坐标区域的该些第二限制高度以及该第一限制高度以建立该电路基板的一限高区结构；

依据该限高区结构比对一基板置入空间中各个坐标所对应的高度，模拟并判断该电路基板在置于该基板置入空间时是否造成冲突。

2.根据权利要求1所述的空间结构的干涉检查方法，其特征在于，该限高区结构包括多个限高区域，各该限高区域对应该电路基板中的各该坐标区域，并且，

依据该些坐标区域的该些第二限制高度以及该第一限制高度以建立该电路基板的该限高区结构包括下列步骤：

判断该电路基板中各该坐标区域是否具有对应的各该第二限制高度；

当一目标坐标区域已设定对应的该第二限制高度时，将与该目标坐标区域对应的各该限高区域设定为该第二限制高度；以及

当一目标坐标区域并未设定对应的该第二限制高度时，将与该目标坐标区域对应的各该限高区域设定为该第一限制高度。

3.根据权利要求1所述的空间结构的干涉检查方法，其特征在于，依据该限高区结构比对该基板置入空间中各个坐标所对应的高度包括下列步骤：

依序判断该限高区结构中各该限高区域的设定高度以及该基板置入空间所对应坐标的高度。

4.根据权利要求1所述的空间结构的干涉检查方法，其特征在于，模拟并判断该电路基板在置于该基板置入空间时是否造成冲突包括下列步骤：

当该基板置入空间中各该坐标所对应的低于该坐标区所对应的该限高区结构，判断该基板置入空间与该电路基板已造成冲突，并提示一错误信息。

5.根据权利要求1所述的空间结构的干涉检查方法，其特征在于，该基板置入空间由多个机构零件组建产生。

6.根据权利要求1所述的空间结构的干涉检查方法，还包括：

提供一图形化界面以显示该限高区结构及该基板置入空间。

7.根据权利要求1所述的空间结构的干涉检查方法，其特征在于，还包括：

依据该电路基板的一第一规格清单以取得该第一限制高度以及该些坐标区域所对应的该些第二限制高度。

8.根据权利要求1所述的空间结构的干涉检查方法，其特征在于，还包括：

依据该基板置入空间的一第二规格清单以取得该基板置入空间的该些坐标区域。