[发明专利]空间结构的干涉检查方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种空间冲突的干涉判断技术，且特别是有关于一种判断电路基板与基板置入空间之间的空间结构的干涉检查方法。

背景技术

近年来，随着电子科技的突飞猛进，使得各种不同功能的电子产品不断地出现在市场上，并已深切地影响我们的工作及日常生活。就小型电子产品而言，电子产品通常包括电路基板及机壳。电路基板主要是由许多电子元件及搭载电子元件的电路板所构成，而机壳则是包覆在主板的外围，用以有效地保护主板。

在制造电子产品的过程中，为了确保电路基板可准确置于机壳内而不会发生空间冲突，早期可能通过测试人员对电路基板以及机壳内空间进行大量的检查以避免冲突。现今测试人员可利用三维图像绘制软件(例如，AutoCAD)，借此逐一检查电路基板中每个零件是否可以正确地配置在机壳内有限空间中，以保护电路基板中的零件在置入机壳时不受撞击而可轻易容纳。

在进行上述空间冲突的检验时，由于电路基板中多是由小型零件所构成，三维图像绘制软件必须逐一读取电路基板上这些零件的模型参数，并利用这些零件的模块参数与机壳内的空间逐一进行比较。例如，三维图像绘制软件会先读取某一零件的模块参数，取得这些模块参数中的坐标及高度关系，利用上述关系来与机壳内空间进行比较后，继续读取下一个零件的模型参数。在同一电路基板中，虽然时常具备同样的多个零件(例如采用相同规格的电阻、电容)，但三维图像绘制软件仅能逐一读取对应零件，因而需要耗去大量的时间。

发明内容

本发明提出一种空间结构的干涉检查方法，其先通过电子零件所划分的坐标区域及其限制高度来建立一限高区结构，并利用此限高区结构与电路基板的基板置入空间进行比较，借此检查是否发生干涉及空间冲突。

本发明提出一种空间结构的干涉检查方法，包括以下步骤。取得电路基板，其中电路基板已设定有第一限制高度，且电路基板中部分的多个坐标区域已分别设定多个第二限制高度，其中第二限制高度小于等于第一限制高度。依据坐标区域的第二限制高度以及第一限制高度以建立电路基板的限高区结构(Keep-out area)。依据限高区结构比对基板置入空间中各个坐标所对应的高度，模拟并判断电路基板在置于基板置入空间时是否造成冲突。

在本发明的一实施例中，上述的限高区结构包括多个限高区域，其中各限高区域对应电路基板中的各坐标区域，并且，依据坐标区域的第二限制高度以及第一限制高度以建立电路基板的限高区结构包括下列步骤：判断电路基板中各坐标区域是否具有对应的各第二限制高度。当目标坐标区域已设定对应的第二限制高度时，将与目标坐标区域对应的各限高区域设定为第二限制高度。当目标坐标区域并未设定对应的第二限制高度时，将与目标坐标区域对应的各限高区域设定为第一限制高度。

在本发明的一实施例中，上述依据限高区结构比对基板置入空间中各个坐标所对应的高度包括下列步骤：依序判断限高区结构中各限高区域的设定高度以及基板置入空间所对应坐标的高度。

在本发明的一实施例中，上述模拟并判断电路基板在置于基板置入空间时是否造成冲突包括下列步骤：当基板置入空间中各坐标所对应的高度超过坐标区所对应的限高区结构，判断基板置入空间与电路基板已造成冲突，并提示错误信息。

在本发明的一实施例中，上述的基板置入空间由多个机构零件组建产生

在本发明的一实施例中，上述的干涉检查方法还包括提供图形化界面以显示限高区结构及基板置入空间。

在本发明的一实施例中，上述的干涉检查方法还包括依据电路基板的第一规格清单以取得第一限制高度以及坐标区域所对应的第二限制高度。

在本发明的一实施例中，上述的干涉检查方法还包括依据基板置入空间的第二规格清单以取得基板置入空间的坐标区域。

基于上述，依据电路基板的第一限制高度以及多个第二限制高度，可建立电路基板的限高区结构。此外，依据限高区结构来比对一空间结构的基板置入空间中各个坐标所对应的高度，可模拟与判断电路基板在置于基板置入空间时是否造成冲突。如此一来，本实施例通过电子零件所划分的坐标区域及其限制高度来建立一限高区结构，并利用此限高区结构与电路基板的基板置入空间进行比较，借此检查电路基板与基板置入空间之间是否发生干涉及空间冲突。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1是本发明一实施例所示出的电子装置的方块图；