[发明专利]阵列测试装置

权利要求书

1.一种阵列测试装置，包括：

调制器，所述调制器面对玻璃面板设置；

固定块，所述固定块绕所述调制器设置；

移动块，所述移动块联接到所述调制器，所述移动块由所述固定块支撑以能被抬升；

吹气单元，所述吹气单元朝所述玻璃面板吹气，使得所述调制器沿远离所述玻璃面板的第一方向移动；

外力提供单元，所述外力提供单元设置在所述固定块与所述移动块之间，所述外力提供单元将外力施加到所述移动块，使得移动块沿与所述第一方向相反的第二方向移动；以及

控制单元，所述控制单元控制所述外力的强度；

其中，所述外力提供单元包括沿所述固定块和所述移动块的周缘方向绕所述调制器设置的多个外力提供单元，并且

从所述外力提供单元产生的外力的强度被单独地控制。

2.如权利要求1所述的阵列测试装置，其中，所述外力提供单元包括：

第一磁性构件和第二磁性构件，所述第一磁性构件和所述第二磁性构件设置在所述固定块和所述移动块内使得所述第一磁性构件面对所述第二磁性构件，所述第一磁性构件和所述第二磁性构件在所述固定块与所述移动块之间产生磁力。

3.如权利要求2所述的阵列测试装置，其中，所述第一磁性构件和/或所述第二磁性构件包括电磁体。

4.如权利要求2所述的阵列测试装置，其中，所述第一磁性构件和/或所述第二磁性构件包括永磁体，并且

所述外力提供单元包括连接到所述第一磁性构件和/或所述第二磁性构件的磁性构件移动装置，所述磁性构件移动装置沿所述第一磁性构件和所述第二磁性构件彼此接近或彼此远离的方向移动所述第一磁性构件和/或所述第二磁性构件。

5.如权利要求1所述的阵列测试装置，其中，假定当所述调制器已移离所述玻璃面板以容许所述调制器水平移动时所述玻璃面板与所述调制器之间的距离称作第一距离，且当所述调制器已接近所述玻璃面板以容许测试所述玻璃面板时所述玻璃面板与所述调制器之间的距离称作第二距离，

所述外力提供单元包括弹性构件，当所述玻璃面板与所述调制器之间的距离是所述第一距离时，所述弹性构件将弹力提供到所述移动块。

6.如权利要求1所述的阵列测试装置，其中，所述外力提供单元包括：

连接到所述固定块的第一吹气装置，所述第一吹气装置朝所述移动块吹气。

7.如权利要求6所述的阵列测试装置，其中，所述移动块的由所述第一吹气装置吹出的气体碰撞所述移动块的部分形成有凹部。

8.如权利要求6所述的阵列测试装置，其中，所述固定块和所述移动块之间设置有膨胀构件，且从所述第一吹气装置吹出的气体供应进所述膨胀构件内。

9.如权利要求1所述的阵列测试装置，其中，所述外力提供单元包括：

连接到所述移动块的第二吹气装置，所述第二吹气装置朝所述固定块吹气。

10.如权利要求9所述的阵列测试装置，其中，所述固定块的由所述第二吹气装置吹出的气体碰撞所述固定块的部分形成有凹部。

11.如权利要求9所述的阵列测试装置，其中，所述固定块和所述移动块之间设置有膨胀构件，且从所述第二吹气装置吹出的气体供应进所述膨胀构件内。

12.如权利要求1所述的阵列测试装置，假定当所述调制器已移离所述玻璃面板以容许所述调制器水平移动时所述玻璃面板与所述调制器之间的距离称作第一距离，且当所述调制器已接近所述玻璃面板以容许测试所述玻璃面板时所述玻璃面板与所述调制器之间的距离称作第二距离，

其中，所述控制单元控制所述外力提供单元的操作，使得当所述调制器沿所述第二方向移动以使所述玻璃面板与所述调制器之间的距离从所述第一距离改变到所述第二距离时外力施加到所述移动块。

13.如权利要求1所述的阵列测试装置，假定当所述调制器已移离所述玻璃面板以容许所述调制器水平移动时所述玻璃面板与所述调制器之间的距离称作第一距离，且当所述调制器已接近所述玻璃面板以容许测试所述玻璃面板时所述玻璃面板与所述调制器之间的距离称作第二距离，

其中，所述控制单元控制所述外力提供单元的操作，使得当所述玻璃面板与所述调制器之间的距离是所述第一距离时外力施加到所述移动块。