[发明专利]一种高精度CCD视频信号采样时序微调方法有效
申请号: | 201210206373.5 | 申请日: | 2012-06-21 |
公开(公告)号: | CN102740011A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 李丙玉;王晓东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | H04N5/372 | 分类号: | H04N5/372;H04N5/378 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 张伟 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高精度 ccd 视频信号 采样 时序 微调 方法 | ||
技术领域
本发明属于CCD探测器成像设计技术领域,具体涉及一种高精度CCD视频信号采样时序微调的方法。
背景技术
CCD探测器成像系统一般由光机系统、预放电路板和信号处理电路板组成。其中,预放电路板上包含CCD探测器和预放电路,信号处理板上包含成像控制器、时序驱动器和视频信号处理电路,CCD视频信号通过同轴电缆由预放电路板引入信号处理电路板,其结构如图1所示。
探测器采用Dalsa公司的可见光TDI-CCD,像元读出频率最高为40MHz。成像控制器采用Xilinx公司Virtex-II Pro系列的FPGA芯片,主要实现CCD驱动时序发生、相关双采样时序发生、视频信号处理电路参数配置和图像数据打包功能。视频信号处理电路采用了集成化视频处理器,芯片内部包含相关双采样(CDS)模块,可编程增益放大(PGA)模块和模数转换(A/D)模块。
CCD探测器成像系统中,探测器输出的CCD视频信号先要经过预放电路处理,再经同轴电缆传输给视频信号处理电路的相关双采样模块,传输路径中电子器件、电源、地线以及电磁辐射等因素引起的噪声会叠加到CCD视频信号上。为了获得更优质量的图像,采样时序要避开CCD视频信号中叠加的噪声,当CCD探测器的读出频率的很高时,需要对采样时序进行高精度的微量调整。
传统的CCD视频信号采样时序微调的方法有两种:第一种方法是成像控制器FPGA通过高频时钟计数进行调整,一般FPGA芯片中四位计数器运行频率最高约为300MHz,即采样时序的调整精度最高约为3ns;第二种方法是通过配置集成化视频处理器的采样时延寄存器,采样时序调整精度为2ns。实际研制过程中,某些情况下上述两种设计方法的调整精度不能满足需求,时序调整的灵活性差。
发明内容
为了解决现有技术中存在的问题,本发明提供了一种高精度CCD视频信号采样时序微调方法,该方法应用FPGA内部固件资源DCM,采用两级DCM级联的设计方式产生两个时钟,通过调整两个时钟之间的相位关系,实现CCD视频信号采样时序的高精度微量调整。
本发明解决技术问题所采用的技术方案如下:
一种高精度CCD视频信号采样时序微调方法,该方法包括如下步骤:
步骤一:成像控制器FPGA的输入时钟经IBUFG后接入DCM1,DCM1的CLK0端输出时钟经BUFG驱动后得到全局时钟SysClk,该时钟用于产生探测器CCD的驱动时序,使得CCD视频信号与全局时钟SysClk具有固定的相位关系;
步骤二:DCM1锁定状态标志信号取反经两级D触发器锁存后,作为DCM2的复位信号,避免DCM1在进行相位锁定时DCM2工作异常;
步骤三:SysClk接入DCM2的CLKIN端,DCM2的CLK0输出端经BUFG驱动后得到CdsClk,用于产生CCD视频信号的采样时序,并接入DCM2的反馈时钟端CLKFB;
步骤四:通过TimingCon模块进行CdsClk与SysClk之间的相位关系动态调整控制,实现高精度CCD视频信号采样时序微调的方法。
本发明的发明原理:本发明应用FPGA内部固件资源DCM,采用两级DCM级联的设计方式产生两个时钟,其中第一级DCM输出的时钟用于产生CCD探测器的驱动时序,第二级DCM输出的时钟用于产生CCD视频信号采样时序,通过调整两个时钟之间的相位关系,实现了CCD视频信号采样时序的高精度微量调整。
本发明的有益效果是:本发明实现了CCD视频信号采样时序的高精度微量调整,调整精度提高到数十皮秒量级,约为传统设计方法的40倍,解决了传统设计方法无法采样到最佳时序位置的问题,对CCD探测器成像系统图像质量的提高具有现实意义。
附图说明
图1现有技术CCD探测器成像系统结构。
图2现有技术DCM内部结构图。
图3本发明一种高精度CCD视频信号采样时序微调方法结构原理图。
图4本发明TimingCon模块结构图。
图5本发明TimingCon模块流程图。
图6本发明Code相移控制参数为00H。
图7本发明十五次相移调整过程。
图8本发明相移调整相移差值。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明做进一步详细说明。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210206373.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。