[发明专利]一种大规模集成电路层级错误记录与响应方法

权利要求书

1.一种大规模集成电路层级错误记录与响应方法，其特征在于，包括如下步骤：

部件模块层级寄存器集合检测、收集和记录本模块内部发生的所有错误，并根据错误等级将本模块所有的错误映射到错误等级寄存器，对本模块所有错误的等级划分；

芯片全局层级寄存器集合收集各个模块报告的错误信息，并将其映射为不同的系统事件；

芯片全局层级寄存器集合最终映射系统事件，触发系统对错误进行响应。

2.如权利要求1所述大规模集成电路层级错误记录与响应方法，其特征在于：所述芯片全局层级寄存器收集和记录的错误是各个模块在屏蔽微小错误之后的、可能引起系统事件的所有错误。

3.如权利要求2所述大规模集成电路层级错误记录与响应方法，其特征在于：所述错误的等级划分可分为如下三个级别：可纠正错误、可覆盖错误和不可纠正错误。

4.如权利要求3所述大规模集成电路层级错误记录与响应方法，其特征在于：所述部件模块层级寄存器为本地寄存器，其包括有负责记录模块内部所有发生的错误信息的本地错误记录寄存器，负责集合模块内部所有可发生的错误，并将当前发生的错误分类的本地错误状态寄存器，负责控制当前发生的错误是否报告的本地错误控制寄存器，以及负责将错误映射到三种错误严重性等级的错误等级寄存器。

5.如权利要求4所述大规模集成电路层级错误记录与响应方法，其特征在于：所述芯片全局层级寄存器为全局寄存器集合，其收集各个模块报告的严重等级较高的错误信息；所述全局寄存器集合包括有用于记录并分类各个模块报告的错误信息的全局状态寄存器、用于将报告的所有错误根据严重性等级分类，并将严重等级高的错误优先处理，实现错误串化处理的全局错误严重性等级寄存器集合。