[发明专利]电子产品可靠性的动态预测方法及装置

权利要求书

1.一种电子产品可靠性的动态预测方法，其特征在于，包括：

针对所预测的电子产品进行硬件故障机理与影响分析FMEA，从中获取关键元器件的种类以及关键元器件的特征电应力；

针对所述电子产品的关键元器件，获取所述关键元器件的动态的电应力比；针对非关键元器件，采用额定电应力或者电路仿真模拟获取电应力比；

根据所述电应力比，对电子产品的可靠性进行动态预测。

2.根据权利要求1所述的电子产品可靠性的动态预测方法，其特征在于，所述进行硬件故障机理与影响分析的步骤具体包括：

根据历史信息搜集预测对象的硬件故障信息；

对所述电子产品进行系统定义、功能分析并绘制产品框图；

制订故障判据并进行故障模式分析；

分析故障影响及根据不同影响划分等级；

根据故障影响等级结果找出影响最大的元器件，并确定所述元器件的特征电应力。

3.根据权利要求1或2所述的电子产品可靠性的动态预测方法，其特征在于，所述获取关键元器件的电应力比的步骤具体包括：

利用数据采集设备在特征信号输出点实时采集特征信号，将所述特征信号与额定电应力相比，计算基于关键元器件的电应力比p₁。

4.根据权利要求3所述的电子产品可靠性的动态预测方法，其特征在于，采取引出导线的方式采集所述特征信号。

5.根据权利要求3所述的电子产品可靠性的动态预测方法，其特征在于，所述获取非关键元器件的电应力比的步骤具体包括：

采用经验数据或者电路仿真模拟的方式获取。

6.根据权利要求5所述的电子产品可靠性的动态预测方法，其特征在于，所述对电子产品的可靠性进行动态预测的步骤具体包括：

所述可靠性由公式λ_All＝λ_key+λ_else计算得到，λ_All为电子产品整体失效率，λ_key为关键元器件的失效率，λ_else为其他元器件的失效率，

λkey=πEπTΣi=1NNiλiπsiπQi]]>

λelse=πEπTΣj=1NNjλjπSjπQj;]]>

其中，N_i和N_j为每种元器件的个数；λ_i和λ_j为元器件的参考失效率，根据不同的元器件查SR-332表得到；π_E为所述电子产品使用环境的影响因子，根据实际环境查SR-332表得到；为温度应力影响因子，Ea为激活能，需要根据不同的元器件查SR-332表得到，k＝8.62×10^-6ev/²k为Boltzman常量，T₀为参考温度313k，T₁为实际环境温度；为电应力影响因子，p₁为实际电应力比，p₀为参考电应力比，m为电应力形状参数，根据不同的元器件查SR-332表得到，为关键元器件电应力影响因子，为非关键元器件电应力影响因子；π_Q为元器件的质量等级，根据元器件不同的质量查SR-332表得到。

7.一种电子产品可靠性的动态预测装置，其特征在于，包括：

FMEA分析模块，用于针对所预测的电子产品进行FMEA分析，获取关键元器件的种类以及关键元器件的特征电应力；

电应力比获取模块，用于针对所述电子产品的关键元器件，获取所述关键元器件的动态的电应力比；针对非关键元器件，采用额定电应力或者电路仿真模拟获取电应力比；

可靠性预测模块，用于根据所述电应力比，对电子产品的可靠性进行动态预测。