[发明专利]采用横切面图像进行超声成像的系统和方法

权利要求书

1.一种超声成像系统(100)，包括：

适于扫描感兴趣容积的探头(105)；

显示装置(118)；以及

与所述探头(105)和所述显示装置(118)电子通信的处理器(116)，其中所述处理器(116)配置成：

控制所述探头(105)以采集第一平面(602)的第一横切面图像(402)；

控制所述探头(105)以采集第二平面(604)的第二横切面图像(404)；

在所述第一横切面图像(402)上实施分段算法以标识结构的第一轮廓(406)；

在所述第二横切面图像(404)上实施分段算法以标识所述结构的第二轮廓(410)；

基于所述第一轮廓(406)和所述第二轮廓(410)中的至少一个来自动配置采集参数；

实施所述采集参数以采集所述结构的数据；

由所述数据生成图像；以及

在所述显示装置(118)上显示所述图像。

2.如权利要求1所述的超声成像系统(100)，其中所述处理器(116)进一步配置成基于所述第一轮廓(406)计算所述结构的第一质心(412)。

3.如权利要求2所述的超声成像系统(100)，其中所述处理器(116)进一步配置成基于所述第二轮廓(410)计算所述结构的第二质心。

4.如权利要求1所述的超声成像系统(100)，其中所述处理器(116)配置成自动控制所述探头(105)以实施所述采集参数。

5.如权利要求1所述的超声成像系统(100)，其中所述处理器(116)配置成实施所述采集参数以采集二维数据。

6.如权利要求1所述的超声成像系统(100)，其中所述处理器(116)配置成基于所述第一轮廓(406)和所述第二轮廓(410)自动配置所述采集参数。

7.一种超声成像系统(100)，包括：

适于扫描感兴趣容积的探头(105)；

显示装置(118)；以及

与所述探头(105)和所述显示装置(118)电子通信的处理器(116)，其中所述处理器(116)配置成：

控制所述探头(105)以采集第一平面的第一横切面图像(402)；

控制所述探头(105)以采集第二平面的第二横切面图像(404)；

在所述第一横切面图像(402)上标识结构的第一轮廓(406)；

在所述第二横切面图像(404)上标识所述结构的第二轮廓(410)；

基于所述第一轮廓(406)和所述第二轮廓(410)计算所述结构的尺寸数据和位置数据；

使用所述尺寸数据和所述位置数据将3D感兴趣区域(ROI)定位在所述结构周围；

控制所述探头(105)以采集所述3D感兴趣区域(ROI)的体数据；

由所述体数据生成图像；以及

在所述显示装置(118)上显示所述图像。

8.如权利要求7所述的超声成像系统(100)，其中所述处理器(116)配置成实施算法以自动标识所述第一轮廓(406)。

9.如权利要求7所述的超声成像系统(100)，其中所述处理器(116)进一步配置成如果所述尺寸数据或所述位置数据指示所述结构处于所述探头(105)的视野(FOV)之外则提供警告。

10.如权利要求9所述的超声成像系统(100)，其中所述处理器(116)进一步配置成提供指示，所述指示针对如何调节所述探头(105)的位置以在新的视野(FOV)内捕捉整个结构。