[发明专利]一种低密度ITO蒸镀靶材的制备方法有效
申请号: | 201210228241.2 | 申请日: | 2012-07-04 |
公开(公告)号: | CN102731068A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 周贤界;郑子涛;许积文;苏中华 | 申请(专利权)人: | 韶关西格玛技术有限公司 |
主分类号: | C04B35/01 | 分类号: | C04B35/01;C04B35/622 |
代理公司: | 韶关市雷门专利事务所 44226 | 代理人: | 周胜明 |
地址: | 512030 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 密度 ito 蒸镀靶材 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种蒸发镀膜材料的制备方法,特别涉及一种用于GaN基发光二极管透明电极的ITO氧化物蒸镀材料的制备方法。
背景技术
LED(Light Emitting Diode),即发光二极管,是一种固态的半导体器件,它可以直接把电能转化为光能。LED改变了传统白炽灯钨丝发光与节能灯三基色粉发光的原理,而采用电场发光。LED具备体积小、寿命长、光效高、高亮度、低热量、无辐射、低功耗、环保和坚固耐用的优点。LED 的应用领域非常广,包括通讯、消费性电子、汽车、照明、信号灯等,可大体区分为背光源、照明、电子设备、显示屏、汽车等五大领域。
自从1991年Nichia公司的Nakamura等人成功地研制出掺Mg的异质结GaN蓝光LED,GaN基LED得到了迅速的发展。GaN基LED以其寿命长、耐冲击、抗震、高效节能等优异特性被广泛研究并且获得了工业化生产。为了提高GaN基发光二极管的出光率,业内人士在不断的探索各种提高亮度的方法。
铟锡氧化物简称ITO(Indium Tin Oxides),ITO是一种n型氧化物半导体,具有良好的导电性和透明性,良好的化学稳定性、热稳定性与衬底的附着性,以及优异的图形加工特性。采用电子束蒸镀或磁控溅射制备的ITO薄膜其电阻率可达到10-4Ωcm,可见光透光率达90%以上,而且ITO薄膜的电阻率和透光率可通过调节In2O3与SnO2的比例以及薄膜制备工艺条件来进行控制。
早在1997年台湾工业研究院为了避开日亚化学的TCL(Transparent Conductive Layer)材料——Ni/Au的专利,用ITO薄膜取代Ni/Au。不仅极大的提高了发光功率,而且管芯发光功率衰减性能也得到了改善。GaN基LED芯片生产商纷纷选择ITO薄膜作为透明电极。
GaN基LED用ITO薄膜的制备工艺为电子束蒸镀,需要低密度多孔的靶材作为蒸镀源。制备低密度ITO靶材的公知方法中,对粉体进行钝化处理采用的是粉体加压成型并破碎,然后高温煅烧和粉碎的处理方式。成型时掺入的粘接剂单一,粉体干燥处理采用简单的电热干燥。同时,靶材烧结时通过加入高压氧气来助烧,生产成本和危险性比较高。因此,改善低密度ITO蒸镀靶材的烧结工艺,减少工序,降低烧结压力和烧结温度,实现低成本及降低生产的危险性,已经成为本领域技术人员亟待解决的技术课题。
发明内容
为了克服现有技术的上述缺点,本发明提供一种低成本、低危险性、短周期、大规模的低密度ITO蒸镀靶材的制备方法。采用本发明制备的低密度ITO蒸镀靶材,作为蒸镀GaN基LED透明电极用的高纯、低致密度的起始材料。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种低密度ITO蒸镀靶材的制备方法, 其工艺步骤是:
步骤一:根据成分配比要求,按照In2O3:90%~98%,SnO2:2%~10%合成锡掺杂的氧化铟粉体,粉体的平均粒径D50为50~250nm,比表面积为3~20m2/g;
步骤二:将步骤一所述的ITO粉体置于煅烧炉内,在常压或无压氧气氛下进行预烧处理,温度为1300~1600℃,时间为3~16小时;
步骤三:将预烧的ITO粉体进行掺脂处理,掺入的有机物包括粘接剂、脱模剂和离型剂,使有机物均匀包覆粉体;
步骤四:将掺脂ITO粉体在80~160℃进行干燥、造粒处理;
步骤五:将造粒ITO粉体放入金属模具中预压成型,压力为40~100Mpa;
步骤六:将成型的ITO素坯放入脱脂炉内,在500~800℃下脱水排脂肪,保温4~48小时;
步骤七:将经步骤六处理后的脱脂ITO素坯放入烧结炉内,在常压或无压氧气氛下进行烧结,温度为1400~1650℃,时间为8~72小时;
通过上述步骤,制备出低密度的ITO蒸镀靶材。
ITO材料的纯度在99.99%或以上,相对密度为60~64%,ITO靶材中In2O3的质量百分含量为90~98%,SnO2的质量百分含量为2~10%,且In2O3和SnO2的质量总和为100%。
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