[发明专利]带微波传感器的细纱前处理装置有效
申请号: | 201210235312.1 | 申请日: | 2003-04-02 |
公开(公告)号: | CN103147191A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 约阿希姆·达米格;米夏埃尔·于丁;科克里·谢里夫 | 申请(专利权)人: | 利特英格纺织机械制造股份公司 |
主分类号: | D01H13/32 | 分类号: | D01H13/32 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 楼仙英;徐年康 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微波 传感器 细纱 处理 装置 | ||
1.有自调匀整牵伸装置(1a)的细纱前处理装置,其中至少一根纤维纱条(2)放置在所述牵伸装置中被牵伸,至少一个有共鸣器(50)的微波传感器(3,30)在牵伸装置的输入处和/或牵伸装置的输出处测量纤维厚度,其特征在于:根据不同纤维纱条和/或不同纤维纱条混合物的校正曲线对至少一个传感器(3,30)进行校正。
2.如权利要求1所述的细纱前处理装置,其特征在于:所述校正曲线储存在电子测量系统中和/或从外部媒介中提取。
3.如权利要求1或2所述的细纱前处理装置,其特征在于:对于不同的纤维纱条材料,至少能够生成并获取一种校正曲线,其中在不同的校正曲线之间能够进行转换。
4.如权利要求1所述的细纱前处理装置,其特征在于:新的校正曲线根据纤维纱条混合物的预定混合率进行确定。
5.如权利要求4所述的细纱前处理装置,其特征在于:新的校正曲线通过至少两条校正曲线的均值、内插和/或回归确定。
6.如权利要1所述的细纱前处理装置,其特征在于:涉及不同纤维纱条材料的校正曲线的数据,储存在电子储存器中以确定新的校正曲线。
7.如权利要6所述的细纱前处理装置,其特征在于:涉及不同纤维纱条材料的校正曲线的数据以表格形式储存在电子储存器中以确定新的校正曲线。
8.如权利要求1所述的细纱前处理装置,其特征在于:一输入装置用于输入混合率,并且一处理单元用于根据输入的混合率确定校正曲线。
9.如权利要求1所述的细纱前处理装置,其特征在于:微波传感器(3)在牵伸装置输入处通过一个重新校正的微波传感器(30)和在牵伸装置输出处借助于一个微处理器进行重新校正。
10.用于校正如权利要求1-9之一所述的细纱前处理装置的方法,其特征在于:微波输出传感器(30)根据实验测量结果进行重新校正,并且微波输入传感器(3)根据这个重新校正被人工或自动重新校正,其中所述微波输出传感器(30)为在所述牵伸装置的输出处的微波传感器,所述微波输入传感器(3)为在所述牵伸装置的输入处的微波传感器。
11.用于校正如权利要求10所述的细纱前处理装置的方法,其特征在于:在所述实验测量结果中,被牵伸纤维纱条的实际纱条厚度被测量。
12.用于校正如权利要求1-9之一所述的细纱前处理装置的方法,其特征在于:由规定含水量的带状纺织纤维纱条被用于校正,或者所有的纤维纱条材料储存在一致的环境条件下并且抽出部分纤维纱条材料用于校正。
13.如权利要求12所述方法,其特征在于:所述用于校正的带状纺织纤维纱条或所述用于校正的纤维纱条材料被注入到硬化的材料中,或者使用相应的纤维材料的初生聚合物。
14.如权利要求13所述方法,其特征在于:所述用于校正的带状纺织纤维纱条或所述用于校正的纤维纱条材料被注入到聚合物中,或者使用粘胶熔体。
15.如权利要求12或13所述的方法,其特征在于:具有与所要处理的纤维纱条材料的介电常数尽可能相同的纺织校正样品被使用。
16.有自调匀整牵伸装置(1a)的细纱前处理装置,至少一根纤维纱条(2)在所述牵伸装置中被牵伸,至少一个有共鸣器(50)的微波传感器(3,30)在牵伸装置的输入处和/或牵伸装置的输出处测量纤维纱条的厚度,其特征在于:以适当的时间间隔和/或在超过空状态下共鸣器特性值的极限值时和/或当超过预定的污垢厚度或油膜厚度时,清洁装置(54)用于清洁至少一个传感器(3,30)。
17.如权利要求16所述的细纱前处理装置,其特征在于:当超过表示污染程度的极限值时,通过控制装置关掉机器。
18.如权利要求16或17所述的细纱前处理装置,其特征在于:当在牵伸装置的输出处更换条筒时,通过控制装置对至少一个传感器(3,30)进行清洁。
19.如权利要求16所述的细纱前处理装置,其特征在于:在清洁至少一个传感器(3,30)之前和/或之后,评估装置用于评估空共鸣器状态下的特性值,以确定共鸣器(50)的污染程度。
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