[发明专利]无源插件的测试方案和装置

权利要求书

1.一种装置，包括：

探针卡，包括：

多个探针引脚；以及

交换网络，连接至所述多个探针引脚，其中所述交换网络被配置用于：

连接第一图案中的所述多个探针引脚；以及

重新连接不同于所述第一图案的第二图案中的所述多个探针引脚。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述探针卡包括内置的有源电路；或者

其中所述探针卡进一步包括控制器/处理器，所述控制器/处理器电连接于所述交换网络，并被配置用于控制所述交换网络；或者

其中所述探针卡进一步包括控制器/处理器，所述控制器/处理器电连接于所述交换网络，并被配置用于控制所述交换网络，并且其中所述控制器/处理器进一步被配置用于：向所述多个探针引脚中的输入引脚提供驱动图案，从所述多个探针引脚中的输出引脚重新获得输出图案，以及比较所述输出图案与预期图案；或者

其中所述探针卡进一步包括控制器/处理器，所述控制器/处理器电连接于所述交换网络，并被配置用于控制所述交换网络，并且其中所述探针卡包括壳体，其中所述交换网络和所述控制器/处理器位于所述壳体中，并且其中所述多个探针引脚从所述壳体内部延伸至所述壳体外部；或者

其中所述探针卡包括壳体，其中所述多个探针引脚从所述壳体内部延伸至所述壳体外部，并且其中所述交换网络位于所述壳体中，并且其中配置用于控制所述交换网络的控制器/处理器位于所述壳体外部；或者

其中所述探针卡进一步包括输入端/输出端，用于接收信号进入所述探针卡内，并将信号输出至所述探针卡的外部，并且其中所述交换网络被配置用于：将所述输入端/输出端其中之一连接至所述多个探针引脚中的第一引脚，并且将所述输入端/输出端其中之一重新连接至所述多个探针引脚中的第二引脚，其中所述多个探针引脚的所述第一引脚和所述第二引脚是不同的引脚；或者

所述装置进一步包括可编程存储器，所述可编程存储器被配置用于存储测试图案，所述测试图案选自基本上由驱动图案、预期图案及其组合组成的组。

3.一种装置，包括：

探针卡，包括：

多个探针引脚；

交换网络，连接至所述多个探针引脚，其中所述交换网络被配置用于改变所述多个探针引脚的连接；

可编程存储器，电连接至所述交换网络；以及

控制器/处理器，电连接至所述交换网络和所述可编程存储器。

4.根据权利要求3所述的装置，其中所述控制器/处理器进一步被配置用于：

为所述多个探针引脚的输入引脚提供存储在所述可编程存储器中的驱动图案；

从所述多个探针引脚的输出引脚重新获得输出图案；以及

比较所述输出图案与存储在所述可编程存储器中的预期图案。

5.根据权利要求3所述的装置，其中所述交换网络、所述可编程存储器和所述控制器/处理器中的一种由专用集成电路(ASIC)形成；或者

其中所述交换网络、所述可编程存储器和所述控制器/处理器中的全部都由专用集成电路(ASIC)形成；或者

其中所述交换网络、所述可编程存储器和所述控制器/处理器中的一种由现场可编程门阵列(FPGA)形成；或者

其中所述交换网络、所述可编程存储器和所述控制器/处理器中的全部都由现场可编程门阵列(FPGA)形成。

6.一种方法，包括：

使探针卡的探针引脚接触第一被测器件(DUT)的第一接触焊盘；

将所述探针卡中的交换网络配置成具有与所述探针引脚的第一连接；

使用配置有所述第一连接的所述探针引脚对所述第一DUT实施第一探测；

使所述探针卡的所述探针引脚接触第二DUT的第二接触焊盘，其中所述第二DUT的设计不同于所述第一DUT的设计；

重新配置所述交换网络以具有不同于第一连接的第二连接；以及

使用配置有所述第二连接的所述探针引脚对所述第二DUT实施第二探测。

7.根据权利要求6所述的方法，其中以电的形式执行所述配置和重新配置的步骤。