[发明专利]一种光学测试系统有效
| 申请号： | 201210249979.7 | 申请日： | 2012-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN102798593A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 潘建伟 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;黄灿 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 光学 测试 系统 | ||
1.一种光学测试系统，其特征在于，包括：
机台；
安装于所述机台上的第一导轨，与机台表面平行；
设置于所述第一导轨上，可在所述第一导轨上滑动，能够配合夹持待测模组的第一滑块和第二滑块。
2.根据权利要求1所述的光学测试系统，其特征在于，还包括：
安装于所述机台上的第二导轨，与机台表面平行，且垂直于所述第一导轨；
设置于所述第二导轨上，可在所述第二导轨上滑动，能够与所述第一滑块和第二滑块配合夹持所述待测模组的第三滑块。
3.根据权利要求2所述的光学测试系统，其特征在于，所述第一导轨和第二导轨上设置有用于确定滑块位置的游标卡尺。
4.根据权利要求2所述的光学测试系统，其特征在于，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块具有一夹持面，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块上均具有一阻挡机构，所述阻挡机构在垂直于所述夹持面的方向上突出于所述夹持面，所述待测模组的上表面贴紧所述阻挡机构下表面时，测量轴位于所述待测模组的表面。
5.根据权利要求2所述的光学测试系统，其特征在于，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块的上表面形成有一凹槽结构，在所述第一滑块、第二滑块和第三滑块配合夹持所述待测模组时，所述凹槽结构的底部不高于所述待测模组的上表面。
6.根据权利要求2所述的光学测试系统，其特征在于，还包括：用于承载所述待测模组的承载机构；所述承载机构具有一承载面，所述承载面与机台表面平行，且能够沿垂直于机台表面的方向运动。
7.根据权利要求6所述的光学测试系统，其特征在于，所述承载面通过弹簧与所述承载机构的主体连接。
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