[发明专利]一种光学测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及测量技术领域，特别是一种光学测试系统。

背景技术

在对待测模组进行光学测量时，当待测模组旋转时，也需要保证测量轴位于待测模组的表面上。为了满足上述的需求，现有技术中的光学测试系统如图1所示，包括：

机台201；

设置于机台201表面的夹具2；以及

光学测量仪3。

如图1所示，该夹具2为固定型夹具，只能匹配一种型号的液晶模组产品。夹具2一般是在一整块材料(电木等)上挖一个容纳待测模组的凹槽。

在测试过程中，将待测模组放置在凹槽中进行测量。

由于测量时，机台1可能需要按照图1虚线所示的两个轴旋转，由于待测模组旋转时，也需要保证测量轴位于待测模组的表面上，所以对于长、宽和高不同的模组都需要制作对应的夹具。

从以上描述可以发现，现有技术中的夹具至少存在适应性太差的缺点，导致夹具成本过高。

发明内容

本发明实施例的目的在于提高一种光学测试系统，使得夹具及测试系统能适应不同尺寸的待测模组，提高夹具的适应性，降低测试成本中的夹具成本。

为实现上述目的，本发明实施例公开了一种光学测试系统，包括：

机台；

安装于所述机台上的第一导轨，与机台表面平行；

设置于所述第一导轨上，可在所述第一导轨上滑动，能够配合夹持待测模组的第一滑块和第二滑块。

上述的光学测试系统，其中，还包括：

安装于所述机台上的第二导轨，与机台表面平行，且垂直于所述第一导轨；

设置于所述第二导轨上，可在所述第二导轨上滑动，能够与所述第一滑块和第二滑块配合夹持所述待测模组的第三滑块。

上述的光学测试系统，其中，所述第一导轨和第二导轨上设置有用于确定滑块位置的游标卡尺。

上述的光学测试系统，其中，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块具有一夹持面，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块上均具有一阻挡机构，所述阻挡机构在垂直于所述夹持面的方向上突出于所述夹持面，所述待测模组的上表面贴紧所述阻挡机构下表面时，测量轴位于所述待测模组的表面。

上述的光学测试系统，其中，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块的上表面形成有一凹槽结构，在所述第一滑块、第二滑块和第三滑块配合夹持所述待测模组时，所述凹槽结构的底部不高于所述待测模组的上表面。

上述的光学测试系统，其中，还包括：用于承载所述待测模组的承载机构；所述承载机构具有一承载面，所述承载面与机台表面平行，且能够沿垂直于机台表面的方向运动。

上述的光学测试系统，其中，所述承载面通过弹簧与所述承载机构的主体连接。

本发明实施例至少具有以下有益效果：

本发明实施例中，当需要对待测模组进行光学测量时，将待测模组置于滑块之间，然后根据待测模组的长/宽调整滑块的位置，使得滑块的夹持面贴紧待测模组的两端，然后通过固定滑块来固定待测模组。

由于滑块可在导轨上滑动，因此当下一次测试时待测模组的长/宽发生变化时，则可以调整滑块在导轨上的位置，使得滑块的夹持面贴紧待测模组的两端，从而夹持固定当前待测模组即可。

因此，本发明实施例的光学测试系统能够适用于长/宽不同的待测模组，提高了夹具的适应性，也就不用再为每一个尺寸不同的待测模组单独设计、制造夹具，降低了测试成本中的夹具成本。

附图说明

图1为现有技术的光学测试系统的结构示意图；

图2为本发明实施例的一种光学测试系统的结构示意图；

图3为本发明实施例的另一种光学测试系统的结构示意图；

图4为本发明实施例的滑块的结构示意图；

图5为本发明实施例的再一种光学测试系统的结构示意图；

图6为图5所示的光学测试系统的不同状态下的示意图；

图7为滑块阻挡测试光线的示意图；

图8a、8b和8c为滑块上设置的三种凹槽的示意图。

其中，附图标记如下：

2    夹具        201  机台        3     光学测量仪

202  第一导轨    203  第一滑块    204   第二滑块

205  第二导轨    206  第三滑块    401   夹持面

402  阻挡机构    501  承载机构    5011  承载面

601  待测模组

具体实施方式