[发明专利]薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板、显示装置无效

专利信息
申请号: 201210254749.X 申请日: 2012-07-20
公开(公告)号: CN102790096A 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 刘政;龙春平;任章淳 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/06;H01L27/12;H01L21/336;G09F9/33
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制作方法 阵列 显示装置
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管,包括基板,设置于所述基板上的有源层、栅绝缘层、栅极以及层间绝缘层,其特征在于,还包括:

设置于所述有源层上的导电刻蚀阻挡层;所述导电刻蚀阻挡层的位置与所述有源层的源极、漏极区域相对应,在所述有源层的源极、漏极区域上方形成有过孔,且该过孔不超过所述导电刻蚀阻挡层的边缘。

2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述设置于所述基板上的有源层、栅绝缘层、栅极以及层间绝缘层,包括:

设置于所述基板上的所述有源层;

设置于所述有源层和基板上的所述栅绝缘层;

设置于所述栅绝缘层上的所述栅极;

设置于所述栅极和栅绝缘层上的所述层间绝缘层。

3.根据权利要求2所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述导电刻蚀阻挡层设置于所述有源层与所述栅绝缘层之间。

4.根据权利要求2所述的薄膜晶体管,其特征在于,还包括:

设置于所述基板与所述有源层之间的缓冲层。

5.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述设置于所述基板上的有源层、栅绝缘层、栅极以及层间绝缘层,包括:

设置于所述基板上的所述栅极;

设置于所述栅极和基板上的所述栅绝缘层;

设置于所述栅绝缘层上的所述有源层;

设置于所述有源层和栅绝缘层上的所述层间绝缘层。

6.根据权利要求5所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述导电刻蚀阻挡层设置于所述有源层与所述层间绝缘层之间。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述导电刻蚀阻挡层的厚度在1500埃至3000埃的范围内。

8.一种阵列基板,其特征在于,包括阵列形成的如权利要求1-7任意一项所述的薄膜晶体管。

9.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求8所述的阵列基板。

10.一种薄膜晶体管的制作方法,包括在基板上形成有源层、栅绝缘层、栅极以及层间绝缘层,其特征在于,

在形成所述有源层后,还包括:

在所述有源层上形成导电刻蚀阻挡层,所述导电刻蚀阻挡层的位置与所述有源层的源极、漏极区域相对应;

在形成所述层间绝缘层后,还包括:

利用过孔刻蚀工艺在所述有源层的源极、漏极区域上方形成过孔,所述过孔不超过所述导电刻蚀阻挡层的边缘。

11.根据权利要求10所述的薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,所述在所述有源层上形成导电刻蚀阻挡层,包括:

采用溅射、热蒸发、等离子体增强化学气相沉积PECVD、低压化学气相沉积LPCVD、大气压化学气相沉积APCVD或电子回旋谐振化学气相沉积ECR-CVD法形成所述导电刻蚀阻挡层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210254749.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top