[发明专利]薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板、显示装置无效
申请号: | 201210254749.X | 申请日: | 2012-07-20 |
公开(公告)号: | CN102790096A | 公开(公告)日: | 2012-11-21 |
发明(设计)人: | 刘政;龙春平;任章淳 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L29/06;H01L27/12;H01L21/336;G09F9/33 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 及其 制作方法 阵列 显示装置 | ||
1.一种薄膜晶体管,包括基板,设置于所述基板上的有源层、栅绝缘层、栅极以及层间绝缘层,其特征在于,还包括:
设置于所述有源层上的导电刻蚀阻挡层;所述导电刻蚀阻挡层的位置与所述有源层的源极、漏极区域相对应,在所述有源层的源极、漏极区域上方形成有过孔,且该过孔不超过所述导电刻蚀阻挡层的边缘。
2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述设置于所述基板上的有源层、栅绝缘层、栅极以及层间绝缘层,包括:
设置于所述基板上的所述有源层;
设置于所述有源层和基板上的所述栅绝缘层;
设置于所述栅绝缘层上的所述栅极;
设置于所述栅极和栅绝缘层上的所述层间绝缘层。
3.根据权利要求2所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述导电刻蚀阻挡层设置于所述有源层与所述栅绝缘层之间。
4.根据权利要求2所述的薄膜晶体管,其特征在于,还包括:
设置于所述基板与所述有源层之间的缓冲层。
5.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述设置于所述基板上的有源层、栅绝缘层、栅极以及层间绝缘层,包括:
设置于所述基板上的所述栅极;
设置于所述栅极和基板上的所述栅绝缘层;
设置于所述栅绝缘层上的所述有源层;
设置于所述有源层和栅绝缘层上的所述层间绝缘层。
6.根据权利要求5所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述导电刻蚀阻挡层设置于所述有源层与所述层间绝缘层之间。
7.根据权利要求1-6任意一项所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述导电刻蚀阻挡层的厚度在1500埃至3000埃的范围内。
8.一种阵列基板,其特征在于,包括阵列形成的如权利要求1-7任意一项所述的薄膜晶体管。
9.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求8所述的阵列基板。
10.一种薄膜晶体管的制作方法,包括在基板上形成有源层、栅绝缘层、栅极以及层间绝缘层,其特征在于,
在形成所述有源层后,还包括:
在所述有源层上形成导电刻蚀阻挡层,所述导电刻蚀阻挡层的位置与所述有源层的源极、漏极区域相对应;
在形成所述层间绝缘层后,还包括:
利用过孔刻蚀工艺在所述有源层的源极、漏极区域上方形成过孔,所述过孔不超过所述导电刻蚀阻挡层的边缘。
11.根据权利要求10所述的薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,所述在所述有源层上形成导电刻蚀阻挡层,包括:
采用溅射、热蒸发、等离子体增强化学气相沉积PECVD、低压化学气相沉积LPCVD、大气压化学气相沉积APCVD或电子回旋谐振化学气相沉积ECR-CVD法形成所述导电刻蚀阻挡层。
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